G01R 3/00 — Способи та пристрої для виготовлення вимірювальних приладів
Спосіб підвищення електричної провідності нематичного рідкого кристалу 6снвт шляхом внесення в нього наночастинок суперіонного провідника cu6ps5i
Номер патенту: 111241
Опубліковано: 10.11.2016
Автори: Тімко Мілан, Студеняк Віктор Ігорович, Бендак Андрій Васильович, Студеняк Ігор Петрович, Ковальчук Олександр Васильович, Копчанський Петер
МПК: G01R 3/00, G02F 1/13
Мітки: суперіонного, рідкого, провідника, кристалу, шляхом, наночастинок, електричної, нематичного, провідності, cu6ps5i, внесення, спосіб, підвищення, 6снвт, нього
Формула / Реферат:
Спосіб підвищення електричної провідності композита на основі нематичного рідкого кристалу 6СНВТ, який відрізняється тим, що в гомогенний нематичний рідкий кристал 6СНВТ вносять наночастинки суперінного провідника Cu6PS5I, внаслідок чого отриманий композит має електричну провідність, яка перевищує електричну провідність нематичного рідкого кристалу 6СНВТ без наночастинок майже на порядок.
Спосіб визначення довжини електричної лінії передачі до місця пошкодження
Номер патенту: 56212
Опубліковано: 10.01.2011
Автори: Кузнєцов Олександр Юрійович, Скирута Михайло Андрійович, Скрипник Юрій Олексійович
МПК: G01R 3/00
Мітки: визначення, довжини, передачі, пошкодження, місця, лінії, спосіб, електричної
Формула / Реферат:
Спосіб визначення довжини електричної лінії передачі до місця пошкодження, при якому генерують періодичну послідовність зондуючих імпульсів, приймають на вході лінії послідовність зондуючих і відбитих імпульсів, вимірюють затримку відбитих імпульсів відносно зондуючих і визначають довжину електричної лінії передачі за формулою, який відрізняється тим, що зондуючі імпульси вибирають однополярні, після вимірювання затримки відбитих імпульсів...
Спосіб виготовлення аналізаторів якості електричної енергії
Номер патенту: 43777
Опубліковано: 25.08.2009
Автори: Немчин Олександр Федорович, Лучніков Володимир Андрійович, Мар'єнко Анатолій Васильович, Лушкін Володимир Андрійович, Проценко В'ячеслав Олександрович, Кальченко Валерій Миколайович, Андрійчук Юрій Андрійович, Середохін Володимир Олексійович
МПК: G01R 11/00, G01R 3/00, G05B 23/02 ...
Мітки: якості, енергії, виготовлення, спосіб, електричної, аналізаторів
Формула / Реферат:
1. Спосіб виготовлення аналізаторів якості електричної енергії, за яким аналізатори якості електричної енергії поділяють на функціонально закінчені складові частини, а саме: вузол подільників вхідних напруг, вузол комутації, блок аналого-цифрового перетворення, блок обчислення параметрів якості електричної енергії зі схемами внутрішньої пам'яті та зовнішнього інтерфейсу, блок індикації, регулювання та перевірку параметрів аналізаторів якості...
Спосіб регулювання та перевірки параметрів лічильників електричної енергії під час їх виробництва
Номер патенту: 38329
Опубліковано: 12.01.2009
Автори: Проценко В'ячеслав Олександрович, Коваль Василь Олексійович, Середохін Володимир Олексійович, Лучніков Володимир Андрійович, Немчин Олександр Федорович, Мар'єнко Анатолій Васильович, Андрійчук Юрій Андрійович, Зоммер Анатолій Еммануїлович, Присяжнюк Олег Арсенійович
МПК: G01R 3/00, G01R 11/00, G05B 23/02 ...
Мітки: спосіб, виробництва, електричної, енергії, лічильників, параметрів, регулювання, перевірки
Формула / Реферат:
Спосіб регулювання та перевірки параметрів лічильників електричної енергії під час їх виробництва, що включає поділ лічильників електричної енергії на функціонально закінчені складові частини, а саме: трансформатори струму, датчики струму, блок аналого-цифрового перетворення, блок формування та підрахунку лічильних імпульсів із схемою зовнішнього інтерфейсу, лічильний пристрій-індикатор, регулювання та перевірку параметрів лічильників...
Спосіб виявленя локальних джерел тепловиділення в зразках кристалів інтегральних схем та напівпровідникових приладів
Номер патенту: 77499
Опубліковано: 15.12.2006
Автори: Клименко Анатолій Семенович, Мошель Микола Васильович, Попов Володимир Михайлович, Поканевич Олексій Платонович
МПК: G01N 13/00, G01R 3/00, H01L 21/66 ...
Мітки: джерел, приладів, зразках, спосіб, виявленя, локальних, тепловиділення, напівпровідникових, кристалів, схем, інтегральних
Формула / Реферат:
1. Спосіб виявлення локальних джерел тепловиділення в зразках кристалів інтегральних схем та напівпровідникових приладів, за яким на контрольовану поверхню зразка кристала наносять тонку плівку холестеричного рідкого кристала, зразок закріплюється на нагріваному тримачі з терморегулятором і підключається до джерела електричного живлення, а локальні джерела тепловиділення виявляють за оптичними зображеннями в поляризаційному мікроскопі...




