G01N 23/20 — за допомогою дифракції, наприклад для дослідження структури кристалів; за допомогою відбитого випромінювання

Номер патенту: 118210

Опубліковано: 25.07.2017

Автори: Майло Андрій Миколайович, Писаренко Георгій Георгійович, Войналович Олександр Володимирович

МПК: G01N 23/20, G01N 3/00

Мітки: ступеня, деталі, металевої, пошкодження, матеріалу, рентгенівський, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Рентгенівський спосіб визначення ступеня втомного пошкодження матеріалу металевої деталі, що включає виготовлення серії однакових зразків з матеріалу, тотожного матеріалу досліджуваної деталі, кожний зразок серії навантажують до створення у ньому механічного напруження певного значення, опромінюють досліджувану деталь і зразки рентгенівським промінням однакових параметрів, а далі фотометруванням співставляють відносний ступінь потемніння...

Номер патенту: 113682

Опубліковано: 10.02.2017

Автор: Семенов Костянтин Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: дифрактометра, юстування, рентгенівського, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб юстування рентгенівського дифрактометра, який полягає в застосуванні лазера і штатних пристроїв гоніометра, який відрізняється тим, що лазер вставляють в утримувач детектора, і, при відключеному джерелі рентгенівського випромінювання, юстують послідовно положення утримувача, нульової лінії, площини зразка, після чого лазер змінюють на детектор і юстують положення джерела рентгенівського випромінювання.

Номер патенту: 98040

Опубліковано: 10.04.2015

Автори: Батурін Олексій Анатолійович, Михайлов Антон Ігоревич, Михайлов Ігор Федорович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сталі, вуглецю, визначення, спосіб, вмісту

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту вуглецю в сталі, що включає в себе опромінення зразка потоком монохроматизованого рентгенівського випромінювання через колімаційну систему і реєстрацію структурних відбиттів цементиту, за інтенсивністю яких визначають вміст вуглецю, який відрізняється тим, що потік монохроматизованого рентгенівського випромінювання отримують за допомогою вторинної мішені, матеріал якої вибирають так, щоб його лінії флюоресценції...

Номер патенту: 90566

Опубліковано: 10.06.2014

Автори: Соломон Андрій Михайлович, Пекар Володимир Ярославович, Пекар Ярослав Михайлович

МПК: G01N 23/20, C30B 35/00

Мітки: монокристалів, кріплення, пристрій, площин, кристалографічних, визначенні

Формула / Реферат:

Пристрій для кріплення монокристалів при визначенні кристалографічних площин, що містить платформу, виконану з можливістю обертання відносно її вертикальної осі, та оправку для кріплення кристала, який відрізняється тим, що платформа, фіксована на поворотному столі дифрактометра, містить регульовану в горизонтальній площині опорну поперечну пластину, а оправка складається з двох квадратних пластин, з'єднаних між собою за допомогою чотирьох...

Номер патенту: 78213

Опубліковано: 11.03.2013

Автори: Мазанко Володимир Федорович, Богданов Євген Іванович, Богданов Сергій Євгенович, Храновська Катерина Миколаївна, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20, G01N 13/00, G01N 23/00 ...

Мітки: об'ємі, розподілу, домішок, монокристала, спосіб, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення розподілу домішок в об'ємі монокристала, що включає опромінення монокристала випромінюванням, реєстрацію випромінювання, розрахунок концентрації домішок в монокристалі, який відрізняється тим, що опромінювання монокристала здійснюють рентгенівським випромінюванням, послідовно видаляють шари монокристала товщиною порядку 3-5 довжин абсорбції, вимірюють інтенсивність дифракційних рентгенівських ліній у кожному шарі, визначають...

Номер патенту: 73734

Опубліковано: 10.10.2012

Автори: Венгер Євген Федорович, Порєв Володимир Андрійович, Кущовий Сергій Миколайович, Матяш Ігор Євгенійович, Маслов Володимир Петрович, Сердега Борис Кирилович

МПК: G01N 23/20

Мітки: кристалів, прозорих, оптичному, якості, сапфір, діапазоні, контролю, вимірювання, пристрій

Формула / Реферат:

Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.

Номер патенту: 71897

Опубліковано: 25.07.2012

Автори: Родін Леонід Михайлович, Овсієнко Ольга Леонідівна, Тюльпінов Олександр Дмитрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, каталізаторів, спосіб, стабільності

Формула / Реферат:

Спосіб визначення стабільності каталізаторів, що містять дисперсні метали і оксиди металів, шляхом оцінки їх активності в активованому стані при нагріванні, який відрізняється тим, що прожарювання зразків у рентгенівській термокамері проводять при температурі 600 °C, порівнюють температурні залежності середнього розміру кристалітів і питому поверхню активного компонента різних зразків однотипних дисперсних каталізаторів.

Номер патенту: 65586

Опубліковано: 12.12.2011

Автори: Конакова Раїса Василівна, Мілєнін Віктор Володимирович, Редько Роман Анатолійович, Заяць Микола Сергійович

МПК: G01R 31/27, G01N 23/20

Мітки: спосіб, гомоепітаксійних, відбраковування, gаas, потенційно, основі, ненадійних, структур

Формула / Реферат:

Спосіб відбраковування потенційно ненадійних гомоепітаксійних структур на основі GaAs та ІnР, що базується на вимірюванні спектрів оптичного відбиття в інтервалі довжин хвиль 900-1200 нм, який відрізняється тим, що контрольовані структури після вимірювання спектра оптичного відбиття додатково піддають впливу імпульсного магнітного поля з індукцією 50-70 мТл, тривалістю імпульсу 1,0-4,0 мс, частотою слідування імпульсів 10-20 Гц і тривалістю...

Номер патенту: 90081

Опубліковано: 12.04.2010

Автори: Челмерс Алекс, Гродзінс Лі, Адамс Уільям, Ротшільд Пітер, Періч Льюіс У.

МПК: G01N 23/20, G01V 5/00

Мітки: випромінювання, допомогою, розсіюванням, рентгенівського, автомобіль-фургон, зворотним, мобільного, контролю

Формула / Реферат:

1. Система контролю для огляду об'єкта, яка включає прикладний засіб пересування, який характеризується вміщувальним корпусом, джерело проникного випромінювання, яке повністю міститься у корпусі прикладного засобу пересування, для генерації проникного випромінювання, просторовий модулятор для формування проникного випромінювання у пучок для опромінення об'єкта зі змінним у часі скануючим профілем, детекторний модуль, який повністю міститься...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Булавін Леонід Анатолійович, Татаренко Валентин Андрійович, Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Лень Євген Георгійович, Молодкін Вадим Борисович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Карнаухов Іван Михайлович, Сторижко Володимир Юхимович, Шпак Анатолій Петрович, Первак Катерина Вадимівна, Барабаш Роза Ісаківна, Низкова Ганна Іванівна, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Віталій Вадимович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Айс Джин Емері, Оліховський Степан Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: дефектів, багатопараметричної, структурної, монокристалів, типами, діагностики, спосіб, декількома

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Номер патенту: 88855

Опубліковано: 25.11.2009

Автори: Данільченко Віталій Юхимович, Делідон Руслан Миколайович, Семирга Олександр Михайлович, Бондар Володимир Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сплавах, заліза, мартенситної, спосіб, визначення, фазі, частки, об'ємної, основі

Формула / Реферат:

Спосіб визначення об'ємної частки мартенситної фази в сплавах на основі заліза, який включає установку зразка сплаву на гоніометрі рентгенівського дифрактометра, опромінення його пучком характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційних рентгенівських рефлексів від кристалографічних площин аустенітної і мартенситної фаз, вимірювання їх інтегральної інтенсивності, який відрізняється тим, що реєстрацію дифракційних...

Номер патенту: 88419

Опубліковано: 12.10.2009

Автори: Кондратьєв Сергій Павлович, Данільченко Віталій Юхимович, Бондар Володимир Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, орієнтації, монокристала, спосіб, кристалографічно

Формула / Реферат:

Спосіб визначення кристалографічної орієнтації монокристала, який включає нерухоме закріплення монокристала в гоніометричній головці рентгенівської камери обертання, опромінення монокристала пучком немонохроматизованих характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційної картини монокристала, що обертається, побудову його полюсної фігури і визначення кутового положення кристалографічних площин, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 86246

Опубліковано: 10.04.2009

Автори: Глибицький Геннадій Марксович, Красницька Алла Абрамівна

МПК: G01N 23/20, C09K 19/38

Мітки: нуклеїнову, спосіб, кислоту, визначення, речовини, впливу

Формула / Реферат:

Спосіб визначення впливу речовини на нуклеїнову кислоту, що передбачає формування рідиннокристалічної дисперсії з нуклеїнової кислоти, який відрізняється тим, що шляхом висушування розчину суміші нуклеїнової кислоти й речовини формують рідиннокристалічну дисперсію та одержують плівку з відповідними текстурами і по величині відношення площі текстур на плівці до площі всієї плівки роблять висновок про вплив речовини.

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Михайло Валентинович, Первак Катерина Вадимівна, Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович, Низкова Ганна Іванівна, Гинько Ігор Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, монокристалів, дефектів, декількома, структурної, діагностики, типами, багатопараметричної

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Номер патенту: 82219

Опубліковано: 25.03.2008

Автори: Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Євген Сергійович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Азарян Альберт Арамаісович, Черкасов Олексій Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: гамма-гамма, руд, кювета, проб, випробування, методом, порошкових

Формула / Реферат:

Кювета для випробування порошкових проб руд гамма-гамма-методом, виготовлена у вигляді місткості циліндричної форми із алюмінію, яка відрізняється тим, що кювета має глибину, яка дорівнює , та товщину дна, яка дорівнює , при цьому:

Номер патенту: 27578

Опубліковано: 12.11.2007

Автори: Кочергін Олександр Васильович, Мороз Микола Георгійович, Казьоннова Ніна Іванівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: щільності, речовини, спосіб, неоднорідностей, пошуку

Формула / Реферат:

Спосіб пошуку неоднорідностей щільності речовини, що включає реєстрацію зворотно-розсіяного γ-випромінювання та режими калібрування і пошуку, а алгоритм вимірювання параметрів сигналу та обробки їх процесором має поріг спрацьовування, який відрізняється тим, що в цей алгоритм введені додаткові пороги спрацьовування верхні  та нижні

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Барабаш Роза Ісаківна, Григор'єв Данило Олегович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, спосіб, досконалості, структурної, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 78353

Опубліковано: 15.03.2007

Автори: Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Євген Сергійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: важких, порошкових, спосіб, чорних, металів, пробах, руд, вмісту, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гамма-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяного матеріалом проби випромінювання і, за...

Номер патенту: 78018

Опубліковано: 15.02.2007

Автори: Новіков Микола Васильович, Добровольський Валентин Давидович, Шведов Леонід Костянтинович

МПК: G01N 23/20

Мітки: аналізу, добровольським-шведовим, рентгеноструктурного, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, за яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі із поворотом навколо своєї осі на 90°, отримують прямокутну проекцію фокальної плями та реєструють...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович, Макара Володимир Арсенійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, досконалості, кристалів, оцінки, спосіб, інтегральної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Номер патенту: 11811

Опубліковано: 16.01.2006

Автори: Азарян Альберт Арамаісович, Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Василенко Євген Сергійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, визначення, чорних, руд, металів, порошкових, пробах, вмісту, важких

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гама-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяної матеріалом проби випромінювання і, за її...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Григор'єв Данило Олегович, Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, товщини, механічної, поверхневого, спосіб, порушеного, монокристалах, шару, обробки

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...

Номер патенту: 4680

Опубліковано: 17.01.2005

Автори: Шведов Леонід Костянтинович, Добровольський Валентин Давидович, Новіков Микола Васильович

МПК: G01N 23/20

Мітки: аналізу, спосіб, рентгеноструктурного, добровольським-шведовим

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, згідно з яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі так, щоб забезпечити прямокутну проекцію фокальної плями і дефокусування дифрагованих...

Номер патенту: 62553

Опубліковано: 15.12.2003

Автори: Лавріненко Валерій Іванович, Проц Лариса Анатоліївна, Соломон Андрій Михайлович, Пуга Павло Павлович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, кристалу, контролю, якості

Формула / Реферат:

1. Спосіб контролю якості кристалу, який включає опромінення поверхні досліджуваного та еталонного кристалів монохроматичним рентгенівським променем та зняття кривих качання шляхом вимірювання інтенсивності відбитого рентгенівського променя при різних кутах повороту пучка відносно кристала та порівняння кривих качання, який відрізняється тим, що еталонний та досліджуваний кристали зішліфовують з утворенням площин з ідентичною...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Ременюк Петро Іванович, Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович, Сушко Володимир Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, структурної, спосіб, оцінки, інтегральної, кристалів

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Номер патенту: 59495

Опубліковано: 15.09.2003

Автор: Кумахов Мурадін Абубєкіровіч

МПК: G01N 1/04, G01N 23/20

Мітки: вимірювально-випробувальний, комплекс, рентгенівський

Формула / Реферат:

1. Вимірювально-випробувальний комплекс для досліджень в рентгенівському діапазоні випромінювання одночасно на кількох аналітичних установках, який містить джерело випромінювання, канали транспортування випромінювання до аналітичних установок і апаратуру аналітичних установок (5), який відрізняється тим, що як джерело випромінювання він містить джерело (1) розбіжного рентгенівського випромінювання, принаймні один канал транспортування...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Лень Євген Георгійович, Решетник Олег Васильович, Кисловський Євген Миколайович, Остафійчук Богдан Костянтинович, Оліховський Степан Йосипович, Шпак Анатолій Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Владімірова Тетяна Петрівна, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20, G01N 23/00

Мітки: досконалості, контролю, спосіб, монокристалів, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Номер патенту: 34988

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Костецький Олексій Михайлович, Романюк Микола Миколайович, Кравців Роман Йосипович

МПК: G01T 1/202, G01N 23/20

Мітки: випромінювання, іонізуючого, оптичний, інтегральної, потужності, вимірювання, дози, пристрій

Формула / Реферат:

1. Оптичний пристрій для вимірювання потужності та інтегральної дози іонізуючого випромінювання, що складається з джерела світла, оптичного датчика радіації, відрізняється тим, що в нього введено чутливий елемент, виготовлений з оптично прозорого анізотропного кристалу у вигляді плоскопаралельної пластинки, та установки для вимірювання оптичного двозаломлення на експериментально встановленій фіксованій довжині хвилі, що відповідає...

Номер патенту: 34891

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Константінов Григорій Вікторович, Василенко В'ячеслав Євгенович, Цибулевський Юрій Євгенович, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: G01N 23/20, G01V 5/00

Мітки: контролю, компонента, корисного, конвейєрний, стрічці, спосіб, вмісту, гірничий, маси

Формула / Реферат:

Спосіб контролю вмісту корисного компонента в гірничій масі на конвеєрній стрічці, який полягає у тому, що поверхню гірничої маси на конвеєрі розрівнюють підвісним пристроєм, на якому встановлені джерело та детектор гамма-квантів, періодично вимірюють інтенсивність зворотно-розсіяного гірничою масою потоку гамма-квантів і за його величиною визначають вміст корисного компонента у мінеральній сировині, який відрізняється тим, що після...

Номер патенту: 32987

Опубліковано: 15.02.2001

Автори: Коложварі Марія Василівна, Богданова-Борець Олександра Василівна, Шпирко Григорій Миколайович

МПК: G01N 23/20, C30B 33/00

Мітки: монокристалу, спосіб, орієнтування

Текст:

...згідно винаходу, на монокристалі виконують принаймні дві пари паралельних зрізів , визначають взаємне розміщення виконаних зрізів , розділяють монокристал на дві частини, кожна з яких містить принаймні два непаралель-них зрізи, після чого визначають просторове положення по відношенню -до кристалографічних напрямків монокристалу зрізів однієї , переваж 2. но, меншої частини монокристалу 1 по ньому судять про орієнтацію зрізів на другій...

Номер патенту: 31875

Опубліковано: 15.12.2000

Автори: Василенко Вячеслав Євгенійович, Азарян Альберт Арамаісович, Яковлєва Світлана Вячеславівна, Смолянський Павло Станиславович

МПК: E21C 39/00, G01N 23/20

Мітки: спосіб, вмісту, корисного, контролю, конвейєрний, маси, компоненту, стрічці, гірничий

Текст:

...та про товщину d шара сировиини на стрічці, а з-за явища кутової анізотропії характер залежності N2, розсіяного на кут 60° випромінювання, від q та d, відрізняється від характеру залежності інтенсивності N/ випромінювання, розсіяного на кут 90°, від тих же параметрів, т.б. NrM2, і в результаті є дві величини інтенсивності випромінювання, кожна з яких по своєму характеризує вміст корисного компоненту q в сировині і величиину d шару...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Когут Михайло Тихонович, Литвинов Юрій Михайлович, Кисловський Євген Миколайович, Ковальчук Михайло Валентинович, Кривицький Владислав Петрович, Оліховський Степан Йосифович, Гуреєв Микола Анатолійович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Кшевецький Станіслав Антонович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Остапчук Анатолій Іванович, Поленур Олександр Вольфович, Бідник Дмитро Ілліч, Немошкаленко Володимир Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Осиновський Максим Євгенович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, динамічної, розсіюючих, досконалості, структурної, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Номер патенту: 19490

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Юрлов Владислав Михайлович, Федчук Олександр Петрович, Руденко Руслана Олександрівна, Поляков Анатолій Євгенович

МПК: G01N 23/20, G01N 33/49, A61P 9/10, G01N 1/40 ...

Мітки: спосіб, дісліпідемій, діагностики, атерогенних

Формула / Реферат:

Способ диагностики атерогенных дислипидемий, включающий приготовление на подложке липидной фракции плазмы крови с участками кристаллизации, отличающийся тем, что в липидной фракции плазмы крови посредством лазерной дифрактометрии определяют среднюю арифметическую величину участков кристаллизации (D) и при значении D £ 16,3 мкм устанавливают отсутствие атерогенной дислипидемии, а при значении D>16,3 мкм - ее наличие.

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Когут Михайло Тихонович, Кривицький Владислав Петрович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Оліховський Степан Йосипович, Низкова Ганна Іванівна, Гаврилова Олена Миколаївна, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Лось Андрій Вікторович, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: контролю, монокристалів, спосіб, експресного, досконалості, структурної, динамічної, розсіюють

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Номер патенту: 20840

Опубліковано: 07.10.1997

Автори: Красуля Олександр Сергійович, Серебреніков Вадим Михайлович, Азарян Володимир Альбертович, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: G01N 23/20

Мітки: переробці, оперативного, технологічними, мінеральної, параметрами, сировини, конвеєрі, контролю, спосіб, пристрій, управління, реалізації

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного контроля и управления технологическими параметрами при переработке минерального сырья на конвейере заключается в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистрируют интегральный поток обратно-рассеянного излучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что непрерывно контролируют содержание полезного компонента в горной массе, активную...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Когут Михайло Тихонович, Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Грищенко Тарас Аркадійович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч

МПК: G01N 23/20

Мітки: контролю, монокристалів, досконалості, структурної, спосіб

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Номер патенту: 10780

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Азарян Альберт Арамоисович, Бизов Володимир Федорович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сировини, технологічного, корисного, реалізації, спосіб, пристрій, вмісту, компонента, контролю, конвейері, оперативного, мінеральний

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного технологического контроля содержания полезного компонента в ми­неральном сырье на конвейере, заключающийся в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистри­руют интегральный поток обратно рассеянного из­лучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что регистрируют отраженные на малые углы гамма-кванты при горизонтальном L ³ 0,5 Дк...

Номер патенту: 5255

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Данільченко Віталій Юхимович, Греков Олексій Анатолієвич, Утенкова Ольга Володимирівна, Харитонов Арнольд Вікторович

МПК: G01N 23/20

Мітки: ренгенівська, камера-монохроматор

Формула / Реферат:

1. Рентгеновская камера-монохроматор, со­держащая подставку, цилиндрическую кассету, коллиматор и ловушку, установленные на кас­сете, гониометрическую головку, ось враще­ния которой совпадает с осью кассеты, кристалл-монохроматор, закрепленный в кристаллодержателе, отличающаяся тем, что, с целью повышения производительности, кристаллохроматор выполнен сменным и смонтиро­ван на выходном конце коллиматора, установленного с возможностью...

Номер патенту: 5035

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Белоцька Ала Олексіївна, Харькова Галина Василівна, Охрименко Микола Микитович, Тіхонов Леонід Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: зйомок, трансмісіонній, рентгенівський, топографії, спосіб, кососиметричних

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в рентгено­вской трансмиссионной топографии, включающий установку кристалла известной ориентации в де­ржателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выво­дят в плоскость, содержащую ось гониометра, вы­вод отражающей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной повер­хности кристалла пучком...

Номер патенту: 5036

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Тіхонов Леонід Володимирович, Харькова Галина Василівна, Белоцька Ала Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: рентгенівському, широкому, кососиметричний, пучці, методом, спосіб, походження, зйомок, аномального

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального про­хождения, включающий установку кристалла из­вестной ориентации в держателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выводят в плос­кость, содержащую ось гониометра, вывод отража­ющей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной поверхности...