G01N 23/20 — за допомогою дифракції, наприклад для дослідження структури кристалів; за допомогою відбитого випромінювання

Номер патенту: 118210

Опубліковано: 25.07.2017

Автори: Майло Андрій Миколайович, Писаренко Георгій Георгійович, Войналович Олександр Володимирович

МПК: G01N 23/20, G01N 3/00

Мітки: пошкодження, рентгенівський, металевої, матеріалу, деталі, ступеня, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Рентгенівський спосіб визначення ступеня втомного пошкодження матеріалу металевої деталі, що включає виготовлення серії однакових зразків з матеріалу, тотожного матеріалу досліджуваної деталі, кожний зразок серії навантажують до створення у ньому механічного напруження певного значення, опромінюють досліджувану деталь і зразки рентгенівським промінням однакових параметрів, а далі фотометруванням співставляють відносний ступінь потемніння...

Номер патенту: 113682

Опубліковано: 10.02.2017

Автор: Семенов Костянтин Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: юстування, спосіб, рентгенівського, дифрактометра

Формула / Реферат:

Спосіб юстування рентгенівського дифрактометра, який полягає в застосуванні лазера і штатних пристроїв гоніометра, який відрізняється тим, що лазер вставляють в утримувач детектора, і, при відключеному джерелі рентгенівського випромінювання, юстують послідовно положення утримувача, нульової лінії, площини зразка, після чого лазер змінюють на детектор і юстують положення джерела рентгенівського випромінювання.

Номер патенту: 98040

Опубліковано: 10.04.2015

Автори: Михайлов Ігор Федорович, Батурін Олексій Анатолійович, Михайлов Антон Ігоревич

МПК: G01N 23/20

Мітки: сталі, спосіб, вмісту, визначення, вуглецю

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту вуглецю в сталі, що включає в себе опромінення зразка потоком монохроматизованого рентгенівського випромінювання через колімаційну систему і реєстрацію структурних відбиттів цементиту, за інтенсивністю яких визначають вміст вуглецю, який відрізняється тим, що потік монохроматизованого рентгенівського випромінювання отримують за допомогою вторинної мішені, матеріал якої вибирають так, щоб його лінії флюоресценції...

Номер патенту: 90566

Опубліковано: 10.06.2014

Автори: Соломон Андрій Михайлович, Пекар Ярослав Михайлович, Пекар Володимир Ярославович

МПК: G01N 23/20, C30B 35/00

Мітки: монокристалів, кристалографічних, визначенні, площин, пристрій, кріплення

Формула / Реферат:

Пристрій для кріплення монокристалів при визначенні кристалографічних площин, що містить платформу, виконану з можливістю обертання відносно її вертикальної осі, та оправку для кріплення кристала, який відрізняється тим, що платформа, фіксована на поворотному столі дифрактометра, містить регульовану в горизонтальній площині опорну поперечну пластину, а оправка складається з двох квадратних пластин, з'єднаних між собою за допомогою чотирьох...

Номер патенту: 78213

Опубліковано: 11.03.2013

Автори: Храновська Катерина Миколаївна, Богданов Сергій Євгенович, Мазанко Володимир Федорович, Богданов Євген Іванович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20, G01N 23/00, G01N 13/00 ...

Мітки: визначення, домішок, розподілу, спосіб, монокристала, об'ємі

Формула / Реферат:

Спосіб визначення розподілу домішок в об'ємі монокристала, що включає опромінення монокристала випромінюванням, реєстрацію випромінювання, розрахунок концентрації домішок в монокристалі, який відрізняється тим, що опромінювання монокристала здійснюють рентгенівським випромінюванням, послідовно видаляють шари монокристала товщиною порядку 3-5 довжин абсорбції, вимірюють інтенсивність дифракційних рентгенівських ліній у кожному шарі, визначають...

Номер патенту: 73734

Опубліковано: 10.10.2012

Автори: Матяш Ігор Євгенійович, Сердега Борис Кирилович, Кущовий Сергій Миколайович, Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович, Порєв Володимир Андрійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сапфір, контролю, прозорих, пристрій, діапазоні, вимірювання, оптичному, якості, кристалів

Формула / Реферат:

Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.

Номер патенту: 71897

Опубліковано: 25.07.2012

Автори: Родін Леонід Михайлович, Овсієнко Ольга Леонідівна, Тюльпінов Олександр Дмитрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: стабільності, каталізаторів, спосіб, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення стабільності каталізаторів, що містять дисперсні метали і оксиди металів, шляхом оцінки їх активності в активованому стані при нагріванні, який відрізняється тим, що прожарювання зразків у рентгенівській термокамері проводять при температурі 600 °C, порівнюють температурні залежності середнього розміру кристалітів і питому поверхню активного компонента різних зразків однотипних дисперсних каталізаторів.

Номер патенту: 65586

Опубліковано: 12.12.2011

Автори: Заяць Микола Сергійович, Редько Роман Анатолійович, Конакова Раїса Василівна, Мілєнін Віктор Володимирович

МПК: G01N 23/20, G01R 31/27

Мітки: ненадійних, спосіб, відбраковування, gаas, гомоепітаксійних, основі, структур, потенційно

Формула / Реферат:

Спосіб відбраковування потенційно ненадійних гомоепітаксійних структур на основі GaAs та ІnР, що базується на вимірюванні спектрів оптичного відбиття в інтервалі довжин хвиль 900-1200 нм, який відрізняється тим, що контрольовані структури після вимірювання спектра оптичного відбиття додатково піддають впливу імпульсного магнітного поля з індукцією 50-70 мТл, тривалістю імпульсу 1,0-4,0 мс, частотою слідування імпульсів 10-20 Гц і тривалістю...

Номер патенту: 90081

Опубліковано: 12.04.2010

Автори: Адамс Уільям, Періч Льюіс У., Гродзінс Лі, Ротшільд Пітер, Челмерс Алекс

МПК: G01N 23/20, G01V 5/00

Мітки: рентгенівського, мобільного, розсіюванням, контролю, зворотним, випромінювання, автомобіль-фургон, допомогою

Формула / Реферат:

1. Система контролю для огляду об'єкта, яка включає прикладний засіб пересування, який характеризується вміщувальним корпусом, джерело проникного випромінювання, яке повністю міститься у корпусі прикладного засобу пересування, для генерації проникного випромінювання, просторовий модулятор для формування проникного випромінювання у пучок для опромінення об'єкта зі змінним у часі скануючим профілем, детекторний модуль, який повністю міститься...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Айс Джин Емері, Кисловський Євген Миколайович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Татаренко Валентин Андрійович, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Віталій Вадимович, Барабаш Роза Ісаківна, Сторижко Володимир Юхимович, Карнаухов Іван Михайлович, Булавін Леонід Анатолійович, Низкова Ганна Іванівна, Первак Катерина Вадимівна, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Лень Євген Георгійович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: багатопараметричної, декількома, дефектів, спосіб, структурної, діагностики, монокристалів, типами

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Номер патенту: 88855

Опубліковано: 25.11.2009

Автори: Данільченко Віталій Юхимович, Делідон Руслан Миколайович, Бондар Володимир Йосипович, Семирга Олександр Михайлович

МПК: G01N 23/20

Мітки: частки, заліза, фазі, мартенситної, об'ємної, визначення, основі, спосіб, сплавах

Формула / Реферат:

Спосіб визначення об'ємної частки мартенситної фази в сплавах на основі заліза, який включає установку зразка сплаву на гоніометрі рентгенівського дифрактометра, опромінення його пучком характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційних рентгенівських рефлексів від кристалографічних площин аустенітної і мартенситної фаз, вимірювання їх інтегральної інтенсивності, який відрізняється тим, що реєстрацію дифракційних...

Номер патенту: 88419

Опубліковано: 12.10.2009

Автори: Бондар Володимир Йосипович, Данільченко Віталій Юхимович, Кондратьєв Сергій Павлович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, монокристала, кристалографічно, орієнтації, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення кристалографічної орієнтації монокристала, який включає нерухоме закріплення монокристала в гоніометричній головці рентгенівської камери обертання, опромінення монокристала пучком немонохроматизованих характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційної картини монокристала, що обертається, побудову його полюсної фігури і визначення кутового положення кристалографічних площин, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 86246

Опубліковано: 10.04.2009

Автори: Глибицький Геннадій Марксович, Красницька Алла Абрамівна

МПК: G01N 23/20, C09K 19/38

Мітки: впливу, кислоту, нуклеїнову, речовини, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення впливу речовини на нуклеїнову кислоту, що передбачає формування рідиннокристалічної дисперсії з нуклеїнової кислоти, який відрізняється тим, що шляхом висушування розчину суміші нуклеїнової кислоти й речовини формують рідиннокристалічну дисперсію та одержують плівку з відповідними текстурами і по величині відношення площі текстур на плівці до площі всієї плівки роблять висновок про вплив речовини.

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Первак Катерина Вадимівна, Низкова Ганна Іванівна, Лень Євген Георгійович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Віталій Вадимович, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Михайло Валентинович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, монокристалів, багатопараметричної, діагностики, декількома, дефектів, типами, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Номер патенту: 82219

Опубліковано: 25.03.2008

Автори: Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Євген Сергійович, Черкасов Олексій Володимирович, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Вячеслав Євгенійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: проб, гамма-гамма, випробування, кювета, руд, порошкових, методом

Формула / Реферат:

Кювета для випробування порошкових проб руд гамма-гамма-методом, виготовлена у вигляді місткості циліндричної форми із алюмінію, яка відрізняється тим, що кювета має глибину, яка дорівнює , та товщину дна, яка дорівнює , при цьому:

Номер патенту: 27578

Опубліковано: 12.11.2007

Автори: Мороз Микола Георгійович, Кочергін Олександр Васильович, Казьоннова Ніна Іванівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: щільності, неоднорідностей, пошуку, речовини, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб пошуку неоднорідностей щільності речовини, що включає реєстрацію зворотно-розсіяного γ-випромінювання та режими калібрування і пошуку, а алгоритм вимірювання параметрів сигналу та обробки їх процесором має поріг спрацьовування, який відрізняється тим, що в цей алгоритм введені додаткові пороги спрацьовування верхні  та нижні

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Григор'єв Данило Олегович, Барабаш Роза Ісаківна, Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, досконалості, спосіб, структурної, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 78353

Опубліковано: 15.03.2007

Автори: Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Василенко Євген Сергійович, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: G01N 23/20

Мітки: металів, руд, важких, порошкових, пробах, визначення, чорних, спосіб, вмісту

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гамма-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяного матеріалом проби випромінювання і, за...

Номер патенту: 78018

Опубліковано: 15.02.2007

Автори: Новіков Микола Васильович, Шведов Леонід Костянтинович, Добровольський Валентин Давидович

МПК: G01N 23/20

Мітки: добровольським-шведовим, спосіб, рентгеноструктурного, аналізу

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, за яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі із поворотом навколо своєї осі на 90°, отримують прямокутну проекцію фокальної плями та реєструють...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Макара Володимир Арсенійович, Новиков Микола Миколайович, Теселько Петро Олексійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: інтегральної, оцінки, структурної, кристалів, спосіб, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Номер патенту: 11811

Опубліковано: 16.01.2006

Автори: Василенко Євген Сергійович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Азарян Альберт Арамаісович, Лісовой Георгій Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: металів, чорних, пробах, визначення, вмісту, порошкових, спосіб, важких, руд

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гама-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяної матеріалом проби випромінювання і, за її...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Гинько Ігор Володимирович, Барабаш Роза Ісаківна, Низкова Ганна Іванівна, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: порушеного, товщини, спосіб, визначення, монокристалах, механічної, обробки, поверхневого, шару

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...

Номер патенту: 4680

Опубліковано: 17.01.2005

Автори: Новіков Микола Васильович, Добровольський Валентин Давидович, Шведов Леонід Костянтинович

МПК: G01N 23/20

Мітки: аналізу, добровольським-шведовим, спосіб, рентгеноструктурного

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, згідно з яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі так, щоб забезпечити прямокутну проекцію фокальної плями і дефокусування дифрагованих...

Номер патенту: 62553

Опубліковано: 15.12.2003

Автори: Лавріненко Валерій Іванович, Проц Лариса Анатоліївна, Пуга Павло Павлович, Соломон Андрій Михайлович

МПК: G01N 23/20

Мітки: кристалу, якості, спосіб, контролю

Формула / Реферат:

1. Спосіб контролю якості кристалу, який включає опромінення поверхні досліджуваного та еталонного кристалів монохроматичним рентгенівським променем та зняття кривих качання шляхом вимірювання інтенсивності відбитого рентгенівського променя при різних кутах повороту пучка відносно кристала та порівняння кривих качання, який відрізняється тим, що еталонний та досліджуваний кристали зішліфовують з утворенням площин з ідентичною...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Теселько Петро Олексійович, Сушко Володимир Георгійович, Ременюк Петро Іванович, Новиков Микола Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оцінки, інтегральної, спосіб, кристалів, структурної, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Номер патенту: 59495

Опубліковано: 15.09.2003

Автор: Кумахов Мурадін Абубєкіровіч

МПК: G01N 1/04, G01N 23/20

Мітки: комплекс, рентгенівський, вимірювально-випробувальний

Формула / Реферат:

1. Вимірювально-випробувальний комплекс для досліджень в рентгенівському діапазоні випромінювання одночасно на кількох аналітичних установках, який містить джерело випромінювання, канали транспортування випромінювання до аналітичних установок і апаратуру аналітичних установок (5), який відрізняється тим, що як джерело випромінювання він містить джерело (1) розбіжного рентгенівського випромінювання, принаймні один канал транспортування...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Оліховський Степан Йосипович, Шпак Анатолій Петрович, Владімірова Тетяна Петрівна, Остафійчук Богдан Костянтинович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Лень Євген Георгійович, Решетник Олег Васильович

МПК: G01N 23/00, G01N 23/20

Мітки: монокристалів, досконалості, структурної, контролю, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Номер патенту: 34988

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Костецький Олексій Михайлович, Романюк Микола Миколайович, Кравців Роман Йосипович

МПК: G01T 1/202, G01N 23/20

Мітки: вимірювання, пристрій, дози, інтегральної, потужності, оптичний, іонізуючого, випромінювання

Формула / Реферат:

1. Оптичний пристрій для вимірювання потужності та інтегральної дози іонізуючого випромінювання, що складається з джерела світла, оптичного датчика радіації, відрізняється тим, що в нього введено чутливий елемент, виготовлений з оптично прозорого анізотропного кристалу у вигляді плоскопаралельної пластинки, та установки для вимірювання оптичного двозаломлення на експериментально встановленій фіксованій довжині хвилі, що відповідає...

Номер патенту: 34891

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Цибулевський Юрій Євгенович, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко В'ячеслав Євгенович, Константінов Григорій Вікторович

МПК: G01V 5/00, G01N 23/20

Мітки: контролю, компонента, стрічці, спосіб, гірничий, маси, конвейєрний, вмісту, корисного

Формула / Реферат:

Спосіб контролю вмісту корисного компонента в гірничій масі на конвеєрній стрічці, який полягає у тому, що поверхню гірничої маси на конвеєрі розрівнюють підвісним пристроєм, на якому встановлені джерело та детектор гамма-квантів, періодично вимірюють інтенсивність зворотно-розсіяного гірничою масою потоку гамма-квантів і за його величиною визначають вміст корисного компонента у мінеральній сировині, який відрізняється тим, що після...

Номер патенту: 32987

Опубліковано: 15.02.2001

Автори: Богданова-Борець Олександра Василівна, Шпирко Григорій Миколайович, Коложварі Марія Василівна

МПК: G01N 23/20, C30B 33/00

Мітки: спосіб, орієнтування, монокристалу

Текст:

...згідно винаходу, на монокристалі виконують принаймні дві пари паралельних зрізів , визначають взаємне розміщення виконаних зрізів , розділяють монокристал на дві частини, кожна з яких містить принаймні два непаралель-них зрізи, після чого визначають просторове положення по відношенню -до кристалографічних напрямків монокристалу зрізів однієї , переваж 2. но, меншої частини монокристалу 1 по ньому судять про орієнтацію зрізів на другій...

Номер патенту: 31875

Опубліковано: 15.12.2000

Автори: Василенко Вячеслав Євгенійович, Смолянський Павло Станиславович, Яковлєва Світлана Вячеславівна, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: G01N 23/20, E21C 39/00

Мітки: маси, спосіб, стрічці, компоненту, контролю, вмісту, гірничий, корисного, конвейєрний

Текст:

...та про товщину d шара сировиини на стрічці, а з-за явища кутової анізотропії характер залежності N2, розсіяного на кут 60° випромінювання, від q та d, відрізняється від характеру залежності інтенсивності N/ випромінювання, розсіяного на кут 90°, від тих же параметрів, т.б. NrM2, і в результаті є дві величини інтенсивності випромінювання, кожна з яких по своєму характеризує вміст корисного компоненту q в сировині і величиину d шару...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Гуреєв Микола Анатолійович, Низкова Ганна Іванівна, Осиновський Максим Євгенович, Молодкін Вадим Борисович, Литвинов Юрій Михайлович, Кривицький Владислав Петрович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Кшевецький Станіслав Антонович, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Остапчук Анатолій Іванович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Ковальчук Михайло Валентинович, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосифович, Поленур Олександр Вольфович, Бідник Дмитро Ілліч

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, динамічної, розсіюючих, визначення, структурної, спосіб, монокристалів

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Номер патенту: 19490

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Руденко Руслана Олександрівна, Юрлов Владислав Михайлович, Федчук Олександр Петрович, Поляков Анатолій Євгенович

МПК: G01N 1/40, G01N 33/49, G01N 23/20, A61P 9/10 ...

Мітки: дісліпідемій, спосіб, атерогенних, діагностики

Формула / Реферат:

Способ диагностики атерогенных дислипидемий, включающий приготовление на подложке липидной фракции плазмы крови с участками кристаллизации, отличающийся тем, что в липидной фракции плазмы крови посредством лазерной дифрактометрии определяют среднюю арифметическую величину участков кристаллизации (D) и при значении D £ 16,3 мкм устанавливают отсутствие атерогенной дислипидемии, а при значении D>16,3 мкм - ее наличие.

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Лось Андрій Вікторович, Кривицький Владислав Петрович, Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна, Гаврилова Олена Миколаївна, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, експресного, контролю, досконалості, розсіюють, монокристалів, динамічної, спосіб

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Номер патенту: 20840

Опубліковано: 07.10.1997

Автори: Азарян Володимир Альбертович, Красуля Олександр Сергійович, Серебреніков Вадим Михайлович, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: G01N 23/20

Мітки: управління, спосіб, мінеральної, пристрій, реалізації, сировини, технологічними, параметрами, оперативного, переробці, контролю, конвеєрі

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного контроля и управления технологическими параметрами при переработке минерального сырья на конвейере заключается в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистрируют интегральный поток обратно-рассеянного излучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что непрерывно контролируют содержание полезного компонента в горной массе, активную...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Шпак Анатолій Петрович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосипович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Низкова Ганна Іванівна, Грищенко Тарас Аркадійович, Когут Михайло Тихонович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Гинько Ігор Володимирович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, монокристалів, контролю, структурної, спосіб

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Номер патенту: 10780

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Бизов Володимир Федорович, Азарян Альберт Арамоисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: технологічного, корисного, вмісту, сировини, мінеральний, компонента, контролю, спосіб, оперативного, пристрій, реалізації, конвейері

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного технологического контроля содержания полезного компонента в ми­неральном сырье на конвейере, заключающийся в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистри­руют интегральный поток обратно рассеянного из­лучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что регистрируют отраженные на малые углы гамма-кванты при горизонтальном L ³ 0,5 Дк...

Номер патенту: 5255

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Греков Олексій Анатолієвич, Утенкова Ольга Володимирівна, Харитонов Арнольд Вікторович, Данільченко Віталій Юхимович

МПК: G01N 23/20

Мітки: ренгенівська, камера-монохроматор

Формула / Реферат:

1. Рентгеновская камера-монохроматор, со­держащая подставку, цилиндрическую кассету, коллиматор и ловушку, установленные на кас­сете, гониометрическую головку, ось враще­ния которой совпадает с осью кассеты, кристалл-монохроматор, закрепленный в кристаллодержателе, отличающаяся тем, что, с целью повышения производительности, кристаллохроматор выполнен сменным и смонтиро­ван на выходном конце коллиматора, установленного с возможностью...

Номер патенту: 5035

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Белоцька Ала Олексіївна, Харькова Галина Василівна, Охрименко Микола Микитович, Тіхонов Леонід Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: рентгенівський, трансмісіонній, кососиметричних, спосіб, зйомок, топографії

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в рентгено­вской трансмиссионной топографии, включающий установку кристалла известной ориентации в де­ржателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выво­дят в плоскость, содержащую ось гониометра, вы­вод отражающей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной повер­хности кристалла пучком...

Номер патенту: 5036

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Белоцька Ала Олексіївна, Харькова Галина Василівна, Тіхонов Леонід Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, аномального, кососиметричний, пучці, походження, зйомок, широкому, методом, рентгенівському

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального про­хождения, включающий установку кристалла из­вестной ориентации в держателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выводят в плос­кость, содержащую ось гониометра, вывод отража­ющей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной поверхности...