G01N 23/20 — за допомогою дифракції, наприклад для дослідження структури кристалів; за допомогою відбитого випромінювання

Номер патенту: 118210

Опубліковано: 25.07.2017

Автори: Майло Андрій Миколайович, Писаренко Георгій Георгійович, Войналович Олександр Володимирович

МПК: G01N 23/20, G01N 3/00

Мітки: деталі, ступеня, пошкодження, рентгенівський, металевої, спосіб, матеріалу, визначення

Формула / Реферат:

Рентгенівський спосіб визначення ступеня втомного пошкодження матеріалу металевої деталі, що включає виготовлення серії однакових зразків з матеріалу, тотожного матеріалу досліджуваної деталі, кожний зразок серії навантажують до створення у ньому механічного напруження певного значення, опромінюють досліджувану деталь і зразки рентгенівським промінням однакових параметрів, а далі фотометруванням співставляють відносний ступінь потемніння...

Номер патенту: 113682

Опубліковано: 10.02.2017

Автор: Семенов Костянтин Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: рентгенівського, спосіб, дифрактометра, юстування

Формула / Реферат:

Спосіб юстування рентгенівського дифрактометра, який полягає в застосуванні лазера і штатних пристроїв гоніометра, який відрізняється тим, що лазер вставляють в утримувач детектора, і, при відключеному джерелі рентгенівського випромінювання, юстують послідовно положення утримувача, нульової лінії, площини зразка, після чого лазер змінюють на детектор і юстують положення джерела рентгенівського випромінювання.

Номер патенту: 98040

Опубліковано: 10.04.2015

Автори: Михайлов Антон Ігоревич, Михайлов Ігор Федорович, Батурін Олексій Анатолійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: вуглецю, сталі, визначення, вмісту, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту вуглецю в сталі, що включає в себе опромінення зразка потоком монохроматизованого рентгенівського випромінювання через колімаційну систему і реєстрацію структурних відбиттів цементиту, за інтенсивністю яких визначають вміст вуглецю, який відрізняється тим, що потік монохроматизованого рентгенівського випромінювання отримують за допомогою вторинної мішені, матеріал якої вибирають так, щоб його лінії флюоресценції...

Номер патенту: 90566

Опубліковано: 10.06.2014

Автори: Соломон Андрій Михайлович, Пекар Ярослав Михайлович, Пекар Володимир Ярославович

МПК: G01N 23/20, C30B 35/00

Мітки: площин, монокристалів, визначенні, кріплення, кристалографічних, пристрій

Формула / Реферат:

Пристрій для кріплення монокристалів при визначенні кристалографічних площин, що містить платформу, виконану з можливістю обертання відносно її вертикальної осі, та оправку для кріплення кристала, який відрізняється тим, що платформа, фіксована на поворотному столі дифрактометра, містить регульовану в горизонтальній площині опорну поперечну пластину, а оправка складається з двох квадратних пластин, з'єднаних між собою за допомогою чотирьох...

Номер патенту: 78213

Опубліковано: 11.03.2013

Автори: Богданов Євген Іванович, Низкова Ганна Іванівна, Богданов Сергій Євгенович, Храновська Катерина Миколаївна, Мазанко Володимир Федорович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20, G01N 13/00, G01N 23/00 ...

Мітки: монокристала, визначення, спосіб, домішок, об'ємі, розподілу

Формула / Реферат:

Спосіб визначення розподілу домішок в об'ємі монокристала, що включає опромінення монокристала випромінюванням, реєстрацію випромінювання, розрахунок концентрації домішок в монокристалі, який відрізняється тим, що опромінювання монокристала здійснюють рентгенівським випромінюванням, послідовно видаляють шари монокристала товщиною порядку 3-5 довжин абсорбції, вимірюють інтенсивність дифракційних рентгенівських ліній у кожному шарі, визначають...

Номер патенту: 73734

Опубліковано: 10.10.2012

Автори: Маслов Володимир Петрович, Сердега Борис Кирилович, Порєв Володимир Андрійович, Венгер Євген Федорович, Матяш Ігор Євгенійович, Кущовий Сергій Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сапфір, вимірювання, якості, прозорих, контролю, оптичному, пристрій, діапазоні, кристалів

Формула / Реферат:

Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.

Номер патенту: 71897

Опубліковано: 25.07.2012

Автори: Тюльпінов Олександр Дмитрович, Родін Леонід Михайлович, Овсієнко Ольга Леонідівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, стабільності, каталізаторів, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення стабільності каталізаторів, що містять дисперсні метали і оксиди металів, шляхом оцінки їх активності в активованому стані при нагріванні, який відрізняється тим, що прожарювання зразків у рентгенівській термокамері проводять при температурі 600 °C, порівнюють температурні залежності середнього розміру кристалітів і питому поверхню активного компонента різних зразків однотипних дисперсних каталізаторів.

Номер патенту: 65586

Опубліковано: 12.12.2011

Автори: Конакова Раїса Василівна, Мілєнін Віктор Володимирович, Редько Роман Анатолійович, Заяць Микола Сергійович

МПК: G01R 31/27, G01N 23/20

Мітки: відбраковування, структур, спосіб, ненадійних, потенційно, гомоепітаксійних, gаas, основі

Формула / Реферат:

Спосіб відбраковування потенційно ненадійних гомоепітаксійних структур на основі GaAs та ІnР, що базується на вимірюванні спектрів оптичного відбиття в інтервалі довжин хвиль 900-1200 нм, який відрізняється тим, що контрольовані структури після вимірювання спектра оптичного відбиття додатково піддають впливу імпульсного магнітного поля з індукцією 50-70 мТл, тривалістю імпульсу 1,0-4,0 мс, частотою слідування імпульсів 10-20 Гц і тривалістю...

Номер патенту: 90081

Опубліковано: 12.04.2010

Автори: Періч Льюіс У., Адамс Уільям, Ротшільд Пітер, Челмерс Алекс, Гродзінс Лі

МПК: G01N 23/20, G01V 5/00

Мітки: випромінювання, розсіюванням, допомогою, зворотним, контролю, рентгенівського, автомобіль-фургон, мобільного

Формула / Реферат:

1. Система контролю для огляду об'єкта, яка включає прикладний засіб пересування, який характеризується вміщувальним корпусом, джерело проникного випромінювання, яке повністю міститься у корпусі прикладного засобу пересування, для генерації проникного випромінювання, просторовий модулятор для формування проникного випромінювання у пучок для опромінення об'єкта зі змінним у часі скануючим профілем, детекторний модуль, який повністю міститься...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Сторижко Володимир Юхимович, Айс Джин Емері, Карнаухов Іван Михайлович, Оліховський Степан Йосипович, Барабаш Роза Ісаківна, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Первак Катерина Вадимівна, Татаренко Валентин Андрійович, Білоцька Алла Олексіївна, Низкова Ганна Іванівна, Носик Валєрій Лєонідовіч, Булавін Леонід Анатолійович, Шпак Анатолій Петрович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: декількома, дефектів, типами, монокристалів, діагностики, спосіб, багатопараметричної, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Номер патенту: 88855

Опубліковано: 25.11.2009

Автори: Делідон Руслан Миколайович, Данільченко Віталій Юхимович, Семирга Олександр Михайлович, Бондар Володимир Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, об'ємної, мартенситної, основі, спосіб, заліза, сплавах, фазі, частки

Формула / Реферат:

Спосіб визначення об'ємної частки мартенситної фази в сплавах на основі заліза, який включає установку зразка сплаву на гоніометрі рентгенівського дифрактометра, опромінення його пучком характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційних рентгенівських рефлексів від кристалографічних площин аустенітної і мартенситної фаз, вимірювання їх інтегральної інтенсивності, який відрізняється тим, що реєстрацію дифракційних...

Номер патенту: 88419

Опубліковано: 12.10.2009

Автори: Бондар Володимир Йосипович, Кондратьєв Сергій Павлович, Данільченко Віталій Юхимович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, кристалографічно, монокристала, орієнтації, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення кристалографічної орієнтації монокристала, який включає нерухоме закріплення монокристала в гоніометричній головці рентгенівської камери обертання, опромінення монокристала пучком немонохроматизованих характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційної картини монокристала, що обертається, побудову його полюсної фігури і визначення кутового положення кристалографічних площин, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 86246

Опубліковано: 10.04.2009

Автори: Красницька Алла Абрамівна, Глибицький Геннадій Марксович

МПК: G01N 23/20, C09K 19/38

Мітки: кислоту, спосіб, речовини, нуклеїнову, визначення, впливу

Формула / Реферат:

Спосіб визначення впливу речовини на нуклеїнову кислоту, що передбачає формування рідиннокристалічної дисперсії з нуклеїнової кислоти, який відрізняється тим, що шляхом висушування розчину суміші нуклеїнової кислоти й речовини формують рідиннокристалічну дисперсію та одержують плівку з відповідними текстурами і по величині відношення площі текстур на плівці до площі всієї плівки роблять висновок про вплив речовини.

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Шпак Анатолій Петрович, Лень Євген Георгійович, Первак Катерина Вадимівна, Оліховський Степан Йосипович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Молодкін Віталій Вадимович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, структурної, декількома, багатопараметричної, діагностики, дефектів, монокристалів, типами

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Номер патенту: 82219

Опубліковано: 25.03.2008

Автори: Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Євген Сергійович, Черкасов Олексій Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: випробування, гамма-гамма, проб, порошкових, руд, методом, кювета

Формула / Реферат:

Кювета для випробування порошкових проб руд гамма-гамма-методом, виготовлена у вигляді місткості циліндричної форми із алюмінію, яка відрізняється тим, що кювета має глибину, яка дорівнює , та товщину дна, яка дорівнює , при цьому:

Номер патенту: 27578

Опубліковано: 12.11.2007

Автори: Казьоннова Ніна Іванівна, Кочергін Олександр Васильович, Мороз Микола Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, пошуку, щільності, речовини, неоднорідностей

Формула / Реферат:

Спосіб пошуку неоднорідностей щільності речовини, що включає реєстрацію зворотно-розсіяного γ-випромінювання та режими калібрування і пошуку, а алгоритм вимірювання параметрів сигналу та обробки їх процесором має поріг спрацьовування, який відрізняється тим, що в цей алгоритм введені додаткові пороги спрацьовування верхні  та нижні

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович, Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Барабаш Роза Ісаківна

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, монокристалів, структурної, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 78353

Опубліковано: 15.03.2007

Автори: Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Євген Сергійович, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Вячеслав Євгенійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: пробах, спосіб, вмісту, чорних, руд, важких, порошкових, визначення, металів

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гамма-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяного матеріалом проби випромінювання і, за...

Номер патенту: 78018

Опубліковано: 15.02.2007

Автори: Новіков Микола Васильович, Добровольський Валентин Давидович, Шведов Леонід Костянтинович

МПК: G01N 23/20

Мітки: аналізу, рентгеноструктурного, спосіб, добровольським-шведовим

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, за яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі із поворотом навколо своєї осі на 90°, отримують прямокутну проекцію фокальної плями та реєструють...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Теселько Петро Олексійович, Макара Володимир Арсенійович, Новиков Микола Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: кристалів, оцінки, спосіб, досконалості, структурної, інтегральної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Номер патенту: 11811

Опубліковано: 16.01.2006

Автори: Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Василенко Євген Сергійович, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: G01N 23/20

Мітки: вмісту, металів, пробах, визначення, чорних, важких, руд, порошкових, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гама-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяної матеріалом проби випромінювання і, за її...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Когут Михайло Тихонович, Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Григор'єв Данило Олегович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, товщини, поверхневого, спосіб, обробки, монокристалах, порушеного, механічної, шару

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...

Номер патенту: 4680

Опубліковано: 17.01.2005

Автори: Новіков Микола Васильович, Добровольський Валентин Давидович, Шведов Леонід Костянтинович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, добровольським-шведовим, рентгеноструктурного, аналізу

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, згідно з яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі так, щоб забезпечити прямокутну проекцію фокальної плями і дефокусування дифрагованих...

Номер патенту: 62553

Опубліковано: 15.12.2003

Автори: Соломон Андрій Михайлович, Лавріненко Валерій Іванович, Пуга Павло Павлович, Проц Лариса Анатоліївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, якості, кристалу, контролю

Формула / Реферат:

1. Спосіб контролю якості кристалу, який включає опромінення поверхні досліджуваного та еталонного кристалів монохроматичним рентгенівським променем та зняття кривих качання шляхом вимірювання інтенсивності відбитого рентгенівського променя при різних кутах повороту пучка відносно кристала та порівняння кривих качання, який відрізняється тим, що еталонний та досліджуваний кристали зішліфовують з утворенням площин з ідентичною...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Сушко Володимир Георгійович, Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович, Ременюк Петро Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: кристалів, структурної, спосіб, досконалості, інтегральної, оцінки

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Номер патенту: 59495

Опубліковано: 15.09.2003

Автор: Кумахов Мурадін Абубєкіровіч

МПК: G01N 23/20, G01N 1/04

Мітки: рентгенівський, вимірювально-випробувальний, комплекс

Формула / Реферат:

1. Вимірювально-випробувальний комплекс для досліджень в рентгенівському діапазоні випромінювання одночасно на кількох аналітичних установках, який містить джерело випромінювання, канали транспортування випромінювання до аналітичних установок і апаратуру аналітичних установок (5), який відрізняється тим, що як джерело випромінювання він містить джерело (1) розбіжного рентгенівського випромінювання, принаймні один канал транспортування...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Оліховський Степан Йосипович, Кисловський Євген Миколайович, Решетник Олег Васильович, Владімірова Тетяна Петрівна, Шпак Анатолій Петрович, Остафійчук Богдан Костянтинович, Лень Євген Георгійович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович

МПК: G01N 23/00, G01N 23/20

Мітки: монокристалів, контролю, досконалості, спосіб, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Номер патенту: 34988

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Романюк Микола Миколайович, Костецький Олексій Михайлович, Кравців Роман Йосипович

МПК: G01T 1/202, G01N 23/20

Мітки: вимірювання, потужності, інтегральної, випромінювання, іонізуючого, оптичний, дози, пристрій

Формула / Реферат:

1. Оптичний пристрій для вимірювання потужності та інтегральної дози іонізуючого випромінювання, що складається з джерела світла, оптичного датчика радіації, відрізняється тим, що в нього введено чутливий елемент, виготовлений з оптично прозорого анізотропного кристалу у вигляді плоскопаралельної пластинки, та установки для вимірювання оптичного двозаломлення на експериментально встановленій фіксованій довжині хвилі, що відповідає...

Номер патенту: 34891

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Василенко В'ячеслав Євгенович, Цибулевський Юрій Євгенович, Азарян Альберт Арамаісович, Константінов Григорій Вікторович

МПК: G01N 23/20, G01V 5/00

Мітки: конвейєрний, корисного, гірничий, спосіб, контролю, маси, вмісту, компонента, стрічці

Формула / Реферат:

Спосіб контролю вмісту корисного компонента в гірничій масі на конвеєрній стрічці, який полягає у тому, що поверхню гірничої маси на конвеєрі розрівнюють підвісним пристроєм, на якому встановлені джерело та детектор гамма-квантів, періодично вимірюють інтенсивність зворотно-розсіяного гірничою масою потоку гамма-квантів і за його величиною визначають вміст корисного компонента у мінеральній сировині, який відрізняється тим, що після...

Номер патенту: 32987

Опубліковано: 15.02.2001

Автори: Шпирко Григорій Миколайович, Богданова-Борець Олександра Василівна, Коложварі Марія Василівна

МПК: G01N 23/20, C30B 33/00

Мітки: спосіб, монокристалу, орієнтування

Текст:

...згідно винаходу, на монокристалі виконують принаймні дві пари паралельних зрізів , визначають взаємне розміщення виконаних зрізів , розділяють монокристал на дві частини, кожна з яких містить принаймні два непаралель-них зрізи, після чого визначають просторове положення по відношенню -до кристалографічних напрямків монокристалу зрізів однієї , переваж 2. но, меншої частини монокристалу 1 по ньому судять про орієнтацію зрізів на другій...

Номер патенту: 31875

Опубліковано: 15.12.2000

Автори: Василенко Вячеслав Євгенійович, Смолянський Павло Станиславович, Яковлєва Світлана Вячеславівна, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: E21C 39/00, G01N 23/20

Мітки: спосіб, контролю, конвейєрний, вмісту, компоненту, корисного, гірничий, маси, стрічці

Текст:

...та про товщину d шара сировиини на стрічці, а з-за явища кутової анізотропії характер залежності N2, розсіяного на кут 60° випромінювання, від q та d, відрізняється від характеру залежності інтенсивності N/ випромінювання, розсіяного на кут 90°, від тих же параметрів, т.б. NrM2, і в результаті є дві величини інтенсивності випромінювання, кожна з яких по своєму характеризує вміст корисного компоненту q в сировині і величиину d шару...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Гуреєв Анатолій Миколайович, Остапчук Анатолій Іванович, Поленур Олександр Вольфович, Литвинов Юрій Михайлович, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Осиновський Максим Євгенович, Гуреєв Микола Анатолійович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Оліховський Степан Йосифович, Кшевецький Станіслав Антонович, Шпак Анатолій Петрович, Кривицький Владислав Петрович, Бідник Дмитро Ілліч, Бар'яхтар Віктор Григорович, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, динамічної, спосіб, структурної, визначення, розсіюючих, досконалості

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Номер патенту: 19490

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Руденко Руслана Олександрівна, Юрлов Владислав Михайлович, Поляков Анатолій Євгенович, Федчук Олександр Петрович

МПК: G01N 23/20, A61P 9/10, G01N 33/49, G01N 1/40 ...

Мітки: діагностики, спосіб, атерогенних, дісліпідемій

Формула / Реферат:

Способ диагностики атерогенных дислипидемий, включающий приготовление на подложке липидной фракции плазмы крови с участками кристаллизации, отличающийся тем, что в липидной фракции плазмы крови посредством лазерной дифрактометрии определяют среднюю арифметическую величину участков кристаллизации (D) и при значении D £ 16,3 мкм устанавливают отсутствие атерогенной дислипидемии, а при значении D>16,3 мкм - ее наличие.

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Лось Андрій Вікторович, Кисловський Євген Миколайович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Кривицький Владислав Петрович, Оліховський Степан Йосипович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Гаврилова Олена Миколаївна, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: експресного, досконалості, спосіб, розсіюють, контролю, монокристалів, структурної, динамічної

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Номер патенту: 20840

Опубліковано: 07.10.1997

Автори: Азарян Альберт Арамаісович, Серебреніков Вадим Михайлович, Красуля Олександр Сергійович, Азарян Володимир Альбертович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оперативного, спосіб, контролю, реалізації, мінеральної, переробці, пристрій, технологічними, параметрами, сировини, конвеєрі, управління

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного контроля и управления технологическими параметрами при переработке минерального сырья на конвейере заключается в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистрируют интегральный поток обратно-рассеянного излучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что непрерывно контролируют содержание полезного компонента в горной массе, активную...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Низкова Ганна Іванівна, Оліховський Степан Йосипович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Грищенко Тарас Аркадійович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, структурної, контролю, монокристалів, досконалості

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Номер патенту: 10780

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Азарян Альберт Арамоисович, Бизов Володимир Федорович

МПК: G01N 23/20

Мітки: конвейері, компонента, сировини, пристрій, спосіб, вмісту, мінеральний, реалізації, контролю, оперативного, технологічного, корисного

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного технологического контроля содержания полезного компонента в ми­неральном сырье на конвейере, заключающийся в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистри­руют интегральный поток обратно рассеянного из­лучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что регистрируют отраженные на малые углы гамма-кванты при горизонтальном L ³ 0,5 Дк...

Номер патенту: 5255

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Харитонов Арнольд Вікторович, Утенкова Ольга Володимирівна, Греков Олексій Анатолієвич, Данільченко Віталій Юхимович

МПК: G01N 23/20

Мітки: ренгенівська, камера-монохроматор

Формула / Реферат:

1. Рентгеновская камера-монохроматор, со­держащая подставку, цилиндрическую кассету, коллиматор и ловушку, установленные на кас­сете, гониометрическую головку, ось враще­ния которой совпадает с осью кассеты, кристалл-монохроматор, закрепленный в кристаллодержателе, отличающаяся тем, что, с целью повышения производительности, кристаллохроматор выполнен сменным и смонтиро­ван на выходном конце коллиматора, установленного с возможностью...

Номер патенту: 5035

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Белоцька Ала Олексіївна, Тіхонов Леонід Володимирович, Охрименко Микола Микитович, Харькова Галина Василівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: топографії, рентгенівський, кососиметричних, зйомок, трансмісіонній, спосіб

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в рентгено­вской трансмиссионной топографии, включающий установку кристалла известной ориентации в де­ржателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выво­дят в плоскость, содержащую ось гониометра, вы­вод отражающей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной повер­хности кристалла пучком...

Номер патенту: 5036

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Тіхонов Леонід Володимирович, Харькова Галина Василівна, Белоцька Ала Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: методом, зйомок, аномального, походження, спосіб, пучці, рентгенівському, широкому, кососиметричний

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального про­хождения, включающий установку кристалла из­вестной ориентации в держателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выводят в плос­кость, содержащую ось гониометра, вывод отража­ющей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной поверхности...