G01N 23/20 — за допомогою дифракції, наприклад для дослідження структури кристалів; за допомогою відбитого випромінювання
Рентгенівський спосіб визначення ступеня пошкодження матеріалу металевої деталі
Номер патенту: 118210
Опубліковано: 25.07.2017
Автори: Майло Андрій Миколайович, Писаренко Георгій Георгійович, Войналович Олександр Володимирович
МПК: G01N 23/20, G01N 3/00
Мітки: пошкодження, рентгенівський, металевої, матеріалу, деталі, ступеня, визначення, спосіб
Формула / Реферат:
Рентгенівський спосіб визначення ступеня втомного пошкодження матеріалу металевої деталі, що включає виготовлення серії однакових зразків з матеріалу, тотожного матеріалу досліджуваної деталі, кожний зразок серії навантажують до створення у ньому механічного напруження певного значення, опромінюють досліджувану деталь і зразки рентгенівським промінням однакових параметрів, а далі фотометруванням співставляють відносний ступінь потемніння...
Спосіб юстування рентгенівського дифрактометра
Номер патенту: 113682
Опубліковано: 10.02.2017
Автор: Семенов Костянтин Іванович
МПК: G01N 23/20
Мітки: юстування, спосіб, рентгенівського, дифрактометра
Формула / Реферат:
Спосіб юстування рентгенівського дифрактометра, який полягає в застосуванні лазера і штатних пристроїв гоніометра, який відрізняється тим, що лазер вставляють в утримувач детектора, і, при відключеному джерелі рентгенівського випромінювання, юстують послідовно положення утримувача, нульової лінії, площини зразка, після чого лазер змінюють на детектор і юстують положення джерела рентгенівського випромінювання.
Спосіб визначення вмісту вуглецю в сталі
Номер патенту: 98040
Опубліковано: 10.04.2015
Автори: Михайлов Ігор Федорович, Батурін Олексій Анатолійович, Михайлов Антон Ігоревич
МПК: G01N 23/20
Мітки: сталі, спосіб, вмісту, визначення, вуглецю
Формула / Реферат:
Спосіб визначення вмісту вуглецю в сталі, що включає в себе опромінення зразка потоком монохроматизованого рентгенівського випромінювання через колімаційну систему і реєстрацію структурних відбиттів цементиту, за інтенсивністю яких визначають вміст вуглецю, який відрізняється тим, що потік монохроматизованого рентгенівського випромінювання отримують за допомогою вторинної мішені, матеріал якої вибирають так, щоб його лінії флюоресценції...
Пристрій для кріплення монокристалів при визначенні їх кристалографічних площин
Номер патенту: 90566
Опубліковано: 10.06.2014
Автори: Соломон Андрій Михайлович, Пекар Ярослав Михайлович, Пекар Володимир Ярославович
МПК: G01N 23/20, C30B 35/00
Мітки: монокристалів, кристалографічних, визначенні, площин, пристрій, кріплення
Формула / Реферат:
Пристрій для кріплення монокристалів при визначенні кристалографічних площин, що містить платформу, виконану з можливістю обертання відносно її вертикальної осі, та оправку для кріплення кристала, який відрізняється тим, що платформа, фіксована на поворотному столі дифрактометра, містить регульовану в горизонтальній площині опорну поперечну пластину, а оправка складається з двох квадратних пластин, з'єднаних між собою за допомогою чотирьох...
Спосіб визначення розподілу домішок в об’ємі монокристала
Номер патенту: 78213
Опубліковано: 11.03.2013
Автори: Храновська Катерина Миколаївна, Богданов Сергій Євгенович, Мазанко Володимир Федорович, Богданов Євген Іванович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович
МПК: G01N 23/20, G01N 23/00, G01N 13/00 ...
Мітки: визначення, домішок, розподілу, спосіб, монокристала, об'ємі
Формула / Реферат:
Спосіб визначення розподілу домішок в об'ємі монокристала, що включає опромінення монокристала випромінюванням, реєстрацію випромінювання, розрахунок концентрації домішок в монокристалі, який відрізняється тим, що опромінювання монокристала здійснюють рентгенівським випромінюванням, послідовно видаляють шари монокристала товщиною порядку 3-5 довжин абсорбції, вимірюють інтенсивність дифракційних рентгенівських ліній у кожному шарі, визначають...
Пристрій “сапфір” контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання
Номер патенту: 73734
Опубліковано: 10.10.2012
Автори: Матяш Ігор Євгенійович, Сердега Борис Кирилович, Кущовий Сергій Миколайович, Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович, Порєв Володимир Андрійович
МПК: G01N 23/20
Мітки: сапфір, контролю, прозорих, пристрій, діапазоні, вимірювання, оптичному, якості, кристалів
Формула / Реферат:
Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.
Спосіб визначення стабільності каталізаторів
Номер патенту: 71897
Опубліковано: 25.07.2012
Автори: Родін Леонід Михайлович, Овсієнко Ольга Леонідівна, Тюльпінов Олександр Дмитрович
МПК: G01N 23/20
Мітки: стабільності, каталізаторів, спосіб, визначення
Формула / Реферат:
Спосіб визначення стабільності каталізаторів, що містять дисперсні метали і оксиди металів, шляхом оцінки їх активності в активованому стані при нагріванні, який відрізняється тим, що прожарювання зразків у рентгенівській термокамері проводять при температурі 600 °C, порівнюють температурні залежності середнього розміру кристалітів і питому поверхню активного компонента різних зразків однотипних дисперсних каталізаторів.
Спосіб відбраковування потенційно ненадійних гомоепітаксійних структур на основі gаas та inp
Номер патенту: 65586
Опубліковано: 12.12.2011
Автори: Заяць Микола Сергійович, Редько Роман Анатолійович, Конакова Раїса Василівна, Мілєнін Віктор Володимирович
МПК: G01N 23/20, G01R 31/27
Мітки: ненадійних, спосіб, відбраковування, gаas, гомоепітаксійних, основі, структур, потенційно
Формула / Реферат:
Спосіб відбраковування потенційно ненадійних гомоепітаксійних структур на основі GaAs та ІnР, що базується на вимірюванні спектрів оптичного відбиття в інтервалі довжин хвиль 900-1200 нм, який відрізняється тим, що контрольовані структури після вимірювання спектра оптичного відбиття додатково піддають впливу імпульсного магнітного поля з індукцією 50-70 мТл, тривалістю імпульсу 1,0-4,0 мс, частотою слідування імпульсів 10-20 Гц і тривалістю...
Автомобіль-фургон для мобільного контролю за допомогою рентгенівського випромінювання зі зворотним розсіюванням
Номер патенту: 90081
Опубліковано: 12.04.2010
Автори: Адамс Уільям, Періч Льюіс У., Гродзінс Лі, Ротшільд Пітер, Челмерс Алекс
МПК: G01N 23/20, G01V 5/00
Мітки: рентгенівського, мобільного, розсіюванням, контролю, зворотним, випромінювання, автомобіль-фургон, допомогою
Формула / Реферат:
1. Система контролю для огляду об'єкта, яка включає прикладний засіб пересування, який характеризується вміщувальним корпусом, джерело проникного випромінювання, яке повністю міститься у корпусі прикладного засобу пересування, для генерації проникного випромінювання, просторовий модулятор для формування проникного випромінювання у пучок для опромінення об'єкта зі змінним у часі скануючим профілем, детекторний модуль, який повністю міститься...
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 89594
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Айс Джин Емері, Кисловський Євген Миколайович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Татаренко Валентин Андрійович, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Віталій Вадимович, Барабаш Роза Ісаківна, Сторижко Володимир Юхимович, Карнаухов Іван Михайлович, Булавін Леонід Анатолійович, Низкова Ганна Іванівна, Первак Катерина Вадимівна, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Лень Євген Георгійович, Гинько Ігор Володимирович
МПК: G01N 23/20
Мітки: багатопараметричної, декількома, дефектів, спосіб, структурної, діагностики, монокристалів, типами
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...
Спосіб визначення об’ємної частки мартенситної фази в сплавах на основі заліза
Номер патенту: 88855
Опубліковано: 25.11.2009
Автори: Данільченко Віталій Юхимович, Делідон Руслан Миколайович, Бондар Володимир Йосипович, Семирга Олександр Михайлович
МПК: G01N 23/20
Мітки: частки, заліза, фазі, мартенситної, об'ємної, визначення, основі, спосіб, сплавах
Формула / Реферат:
Спосіб визначення об'ємної частки мартенситної фази в сплавах на основі заліза, який включає установку зразка сплаву на гоніометрі рентгенівського дифрактометра, опромінення його пучком характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційних рентгенівських рефлексів від кристалографічних площин аустенітної і мартенситної фаз, вимірювання їх інтегральної інтенсивності, який відрізняється тим, що реєстрацію дифракційних...
Спосіб визначення кристалографічної орієнтації монокристала
Номер патенту: 88419
Опубліковано: 12.10.2009
Автори: Бондар Володимир Йосипович, Данільченко Віталій Юхимович, Кондратьєв Сергій Павлович
МПК: G01N 23/20
Мітки: спосіб, монокристала, кристалографічно, орієнтації, визначення
Формула / Реферат:
Спосіб визначення кристалографічної орієнтації монокристала, який включає нерухоме закріплення монокристала в гоніометричній головці рентгенівської камери обертання, опромінення монокристала пучком немонохроматизованих характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційної картини монокристала, що обертається, побудову його полюсної фігури і визначення кутового положення кристалографічних площин, який відрізняється тим, що...
Спосіб визначення впливу речовини на нуклеїнову кислоту
Номер патенту: 86246
Опубліковано: 10.04.2009
Автори: Глибицький Геннадій Марксович, Красницька Алла Абрамівна
МПК: G01N 23/20, C09K 19/38
Мітки: впливу, кислоту, нуклеїнову, речовини, визначення, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб визначення впливу речовини на нуклеїнову кислоту, що передбачає формування рідиннокристалічної дисперсії з нуклеїнової кислоти, який відрізняється тим, що шляхом висушування розчину суміші нуклеїнової кислоти й речовини формують рідиннокристалічну дисперсію та одержують плівку з відповідними текстурами і по величині відношення площі текстур на плівці до площі всієї плівки роблять висновок про вплив речовини.
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 36075
Опубліковано: 10.10.2008
Автори: Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Первак Катерина Вадимівна, Низкова Ганна Іванівна, Лень Євген Георгійович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Віталій Вадимович, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Михайло Валентинович
МПК: G01N 23/20
Мітки: спосіб, монокристалів, багатопараметричної, діагностики, декількома, дефектів, типами, структурної
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...
Кювета для випробування порошкових проб руд гамма-гамма -методом
Номер патенту: 82219
Опубліковано: 25.03.2008
Автори: Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Євген Сергійович, Черкасов Олексій Володимирович, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Вячеслав Євгенійович
МПК: G01N 23/20
Мітки: проб, гамма-гамма, випробування, кювета, руд, порошкових, методом
Формула / Реферат:
Кювета для випробування порошкових проб руд гамма-гамма-методом, виготовлена у вигляді місткості циліндричної форми із алюмінію, яка відрізняється тим, що кювета має глибину, яка дорівнює , та товщину дна, яка дорівнює , при цьому:
Спосіб пошуку неоднорідностей щільності речовини
Номер патенту: 27578
Опубліковано: 12.11.2007
Автори: Мороз Микола Георгійович, Кочергін Олександр Васильович, Казьоннова Ніна Іванівна
МПК: G01N 23/20
Мітки: щільності, неоднорідностей, пошуку, речовини, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб пошуку неоднорідностей щільності речовини, що включає реєстрацію зворотно-розсіяного γ-випромінювання та режими калібрування і пошуку, а алгоритм вимірювання параметрів сигналу та обробки їх процесором має поріг спрацьовування, який відрізняється тим, що в цей алгоритм введені додаткові пороги спрацьовування верхні та нижні
Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів
Номер патенту: 22455
Опубліковано: 25.04.2007
Автори: Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Григор'єв Данило Олегович, Барабаш Роза Ісаківна, Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович
МПК: G01N 23/20
Мітки: монокристалів, досконалості, спосіб, структурної, визначення
Формула / Реферат:
Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси
Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд
Номер патенту: 78353
Опубліковано: 15.03.2007
Автори: Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Василенко Євген Сергійович, Азарян Альберт Арамаісович
МПК: G01N 23/20
Мітки: металів, руд, важких, порошкових, пробах, визначення, чорних, спосіб, вмісту
Формула / Реферат:
Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гамма-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяного матеріалом проби випромінювання і, за...
Спосіб рентгеноструктурного аналізу за добровольським-шведовим
Номер патенту: 78018
Опубліковано: 15.02.2007
Автори: Новіков Микола Васильович, Шведов Леонід Костянтинович, Добровольський Валентин Давидович
МПК: G01N 23/20
Мітки: добровольським-шведовим, спосіб, рентгеноструктурного, аналізу
Формула / Реферат:
Спосіб рентгеноструктурного аналізу, за яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі із поворотом навколо своєї осі на 90°, отримують прямокутну проекцію фокальної плями та реєструють...
Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів
Номер патенту: 77223
Опубліковано: 15.11.2006
Автори: Макара Володимир Арсенійович, Новиков Микола Миколайович, Теселько Петро Олексійович
МПК: G01N 23/20
Мітки: інтегральної, оцінки, структурної, кристалів, спосіб, досконалості
Формула / Реферат:
Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності та її ширину поблизу підніжжя на рівні
Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд
Номер патенту: 11811
Опубліковано: 16.01.2006
Автори: Василенко Євген Сергійович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Азарян Альберт Арамаісович, Лісовой Георгій Миколайович
МПК: G01N 23/20
Мітки: металів, чорних, пробах, визначення, вмісту, порошкових, спосіб, важких, руд
Формула / Реферат:
Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гама-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяної матеріалом проби випромінювання і, за її...
Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки
Номер патенту: 11259
Опубліковано: 15.12.2005
Автори: Гинько Ігор Володимирович, Барабаш Роза Ісаківна, Низкова Ганна Іванівна, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович
МПК: G01N 23/20
Мітки: порушеного, товщини, спосіб, визначення, монокристалах, механічної, обробки, поверхневого, шару
Формула / Реферат:
Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...
Спосіб рентгеноструктурного аналізу за добровольським-шведовим
Номер патенту: 4680
Опубліковано: 17.01.2005
Автори: Новіков Микола Васильович, Добровольський Валентин Давидович, Шведов Леонід Костянтинович
МПК: G01N 23/20
Мітки: аналізу, добровольським-шведовим, спосіб, рентгеноструктурного
Формула / Реферат:
Спосіб рентгеноструктурного аналізу, згідно з яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі так, щоб забезпечити прямокутну проекцію фокальної плями і дефокусування дифрагованих...
Спосіб контролю якості кристалу
Номер патенту: 62553
Опубліковано: 15.12.2003
Автори: Лавріненко Валерій Іванович, Проц Лариса Анатоліївна, Пуга Павло Павлович, Соломон Андрій Михайлович
МПК: G01N 23/20
Мітки: кристалу, якості, спосіб, контролю
Формула / Реферат:
1. Спосіб контролю якості кристалу, який включає опромінення поверхні досліджуваного та еталонного кристалів монохроматичним рентгенівським променем та зняття кривих качання шляхом вимірювання інтенсивності відбитого рентгенівського променя при різних кутах повороту пучка відносно кристала та порівняння кривих качання, який відрізняється тим, що еталонний та досліджуваний кристали зішліфовують з утворенням площин з ідентичною...
Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів
Номер патенту: 42618
Опубліковано: 17.11.2003
Автори: Теселько Петро Олексійович, Сушко Володимир Георгійович, Ременюк Петро Іванович, Новиков Микола Миколайович
МПК: G01N 23/20
Мітки: оцінки, інтегральної, спосіб, кристалів, структурної, досконалості
Формула / Реферат:
Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...
Рентгенівський вимірювально-випробувальний комплекс
Номер патенту: 59495
Опубліковано: 15.09.2003
Автор: Кумахов Мурадін Абубєкіровіч
МПК: G01N 1/04, G01N 23/20
Мітки: комплекс, рентгенівський, вимірювально-випробувальний
Формула / Реферат:
1. Вимірювально-випробувальний комплекс для досліджень в рентгенівському діапазоні випромінювання одночасно на кількох аналітичних установках, який містить джерело випромінювання, канали транспортування випромінювання до аналітичних установок і апаратуру аналітичних установок (5), який відрізняється тим, що як джерело випромінювання він містить джерело (1) розбіжного рентгенівського випромінювання, принаймні один канал транспортування...
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів
Номер патенту: 44121
Опубліковано: 15.01.2002
Автори: Оліховський Степан Йосипович, Шпак Анатолій Петрович, Владімірова Тетяна Петрівна, Остафійчук Богдан Костянтинович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Лень Євген Георгійович, Решетник Олег Васильович
МПК: G01N 23/00, G01N 23/20
Мітки: монокристалів, досконалості, структурної, контролю, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...
Оптичний пристрій для вимірювання потужності та інтегральної дози іонізуючого випромінювання
Номер патенту: 34988
Опубліковано: 15.03.2001
Автори: Костецький Олексій Михайлович, Романюк Микола Миколайович, Кравців Роман Йосипович
МПК: G01T 1/202, G01N 23/20
Мітки: вимірювання, пристрій, дози, інтегральної, потужності, оптичний, іонізуючого, випромінювання
Формула / Реферат:
1. Оптичний пристрій для вимірювання потужності та інтегральної дози іонізуючого випромінювання, що складається з джерела світла, оптичного датчика радіації, відрізняється тим, що в нього введено чутливий елемент, виготовлений з оптично прозорого анізотропного кристалу у вигляді плоскопаралельної пластинки, та установки для вимірювання оптичного двозаломлення на експериментально встановленій фіксованій довжині хвилі, що відповідає...
Спосіб контролю вмісту корисного компонента у гірничій масі на конвейєрній стрічці
Номер патенту: 34891
Опубліковано: 15.03.2001
Автори: Цибулевський Юрій Євгенович, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко В'ячеслав Євгенович, Константінов Григорій Вікторович
МПК: G01V 5/00, G01N 23/20
Мітки: контролю, компонента, стрічці, спосіб, гірничий, маси, конвейєрний, вмісту, корисного
Формула / Реферат:
Спосіб контролю вмісту корисного компонента в гірничій масі на конвеєрній стрічці, який полягає у тому, що поверхню гірничої маси на конвеєрі розрівнюють підвісним пристроєм, на якому встановлені джерело та детектор гамма-квантів, періодично вимірюють інтенсивність зворотно-розсіяного гірничою масою потоку гамма-квантів і за його величиною визначають вміст корисного компонента у мінеральній сировині, який відрізняється тим, що після...
Спосіб орієнтування монокристалу
Номер патенту: 32987
Опубліковано: 15.02.2001
Автори: Богданова-Борець Олександра Василівна, Шпирко Григорій Миколайович, Коложварі Марія Василівна
МПК: G01N 23/20, C30B 33/00
Мітки: спосіб, орієнтування, монокристалу
Текст:
...згідно винаходу, на монокристалі виконують принаймні дві пари паралельних зрізів , визначають взаємне розміщення виконаних зрізів , розділяють монокристал на дві частини, кожна з яких містить принаймні два непаралель-них зрізи, після чого визначають просторове положення по відношенню -до кристалографічних напрямків монокристалу зрізів однієї , переваж 2. но, меншої частини монокристалу 1 по ньому судять про орієнтацію зрізів на другій...
Спосіб контролю вмісту корисного компоненту в гірничій масі на конвейєрній стрічці
Номер патенту: 31875
Опубліковано: 15.12.2000
Автори: Василенко Вячеслав Євгенійович, Смолянський Павло Станиславович, Яковлєва Світлана Вячеславівна, Азарян Альберт Арамаісович
МПК: G01N 23/20, E21C 39/00
Мітки: маси, спосіб, стрічці, компоненту, контролю, вмісту, гірничий, корисного, конвейєрний
Текст:
...та про товщину d шара сировиини на стрічці, а з-за явища кутової анізотропії характер залежності N2, розсіяного на кут 60° випромінювання, від q та d, відрізняється від характеру залежності інтенсивності N/ випромінювання, розсіяного на кут 90°, від тих же параметрів, т.б. NrM2, і в результаті є дві величини інтенсивності випромінювання, кожна з яких по своєму характеризує вміст корисного компоненту q в сировині і величиину d шару...
Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів
Номер патенту: 19220
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Гуреєв Микола Анатолійович, Низкова Ганна Іванівна, Осиновський Максим Євгенович, Молодкін Вадим Борисович, Литвинов Юрій Михайлович, Кривицький Владислав Петрович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Кшевецький Станіслав Антонович, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Остапчук Анатолій Іванович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Ковальчук Михайло Валентинович, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосифович, Поленур Олександр Вольфович, Бідник Дмитро Ілліч
МПК: G01N 23/20
Мітки: досконалості, динамічної, розсіюючих, визначення, структурної, спосіб, монокристалів
Формула / Реферат:
Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...
Спосіб діагностики атерогенних дісліпідемій
Номер патенту: 19490
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Руденко Руслана Олександрівна, Юрлов Владислав Михайлович, Федчук Олександр Петрович, Поляков Анатолій Євгенович
МПК: G01N 1/40, G01N 33/49, G01N 23/20, A61P 9/10 ...
Мітки: дісліпідемій, спосіб, атерогенних, діагностики
Формула / Реферат:
Способ диагностики атерогенных дислипидемий, включающий приготовление на подложке липидной фракции плазмы крови с участками кристаллизации, отличающийся тем, что в липидной фракции плазмы крови посредством лазерной дифрактометрии определяют среднюю арифметическую величину участков кристаллизации (D) и при значении D £ 16,3 мкм устанавливают отсутствие атерогенной дислипидемии, а при значении D>16,3 мкм - ее наличие.
Спосіб експресного контролю структурної досконалості монокристалів, що динамічно розсіюють
Номер патенту: 20094
Опубліковано: 25.12.1997
Автори: Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Лось Андрій Вікторович, Кривицький Владислав Петрович, Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна, Гаврилова Олена Миколаївна, Кисловський Євген Миколайович
МПК: G01N 23/20
Мітки: структурної, експресного, контролю, досконалості, розсіюють, монокристалів, динамічної, спосіб
Формула / Реферат:
Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...
Спосіб оперативного контролю та управління технологічними параметрами при переробці мінеральної сировини на конвеєрі та пристрій для його реалізації
Номер патенту: 20840
Опубліковано: 07.10.1997
Автори: Азарян Володимир Альбертович, Красуля Олександр Сергійович, Серебреніков Вадим Михайлович, Азарян Альберт Арамаісович
МПК: G01N 23/20
Мітки: управління, спосіб, мінеральної, пристрій, реалізації, сировини, технологічними, параметрами, оперативного, переробці, контролю, конвеєрі
Формула / Реферат:
1. Способ оперативного контроля и управления технологическими параметрами при переработке минерального сырья на конвейере заключается в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистрируют интегральный поток обратно-рассеянного излучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что непрерывно контролируют содержание полезного компонента в горной массе, активную...
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів
Номер патенту: 14831
Опубліковано: 18.02.1997
Автори: Шпак Анатолій Петрович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосипович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Низкова Ганна Іванівна, Грищенко Тарас Аркадійович, Когут Михайло Тихонович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Гинько Ігор Володимирович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч
МПК: G01N 23/20
Мітки: досконалості, монокристалів, контролю, структурної, спосіб
Формула / Реферат:
Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны выбранной из условия - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца где путем наклона образца в угловом диапазоне от...
Спосіб оперативного технологічного контролю вмісту корисного компонента в мінеральній сировині на конвейері і пристрій для його реалізації
Номер патенту: 10780
Опубліковано: 25.12.1996
Автори: Бизов Володимир Федорович, Азарян Альберт Арамоисович
МПК: G01N 23/20
Мітки: технологічного, корисного, вмісту, сировини, мінеральний, компонента, контролю, спосіб, оперативного, пристрій, реалізації, конвейері
Формула / Реферат:
1. Способ оперативного технологического контроля содержания полезного компонента в минеральном сырье на конвейере, заключающийся в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистрируют интегральный поток обратно рассеянного излучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что регистрируют отраженные на малые углы гамма-кванты при горизонтальном L ³ 0,5 Дк...
Ренгенівська камера-монохроматор
Номер патенту: 5255
Опубліковано: 28.12.1994
Автори: Греков Олексій Анатолієвич, Утенкова Ольга Володимирівна, Харитонов Арнольд Вікторович, Данільченко Віталій Юхимович
МПК: G01N 23/20
Мітки: ренгенівська, камера-монохроматор
Формула / Реферат:
1. Рентгеновская камера-монохроматор, содержащая подставку, цилиндрическую кассету, коллиматор и ловушку, установленные на кассете, гониометрическую головку, ось вращения которой совпадает с осью кассеты, кристалл-монохроматор, закрепленный в кристаллодержателе, отличающаяся тем, что, с целью повышения производительности, кристаллохроматор выполнен сменным и смонтирован на выходном конце коллиматора, установленного с возможностью...
Спосіб кососиметричних зйомок в рентгенівській трансмісіонній топографії
Номер патенту: 5035
Опубліковано: 28.12.1994
Автори: Белоцька Ала Олексіївна, Харькова Галина Василівна, Охрименко Микола Микитович, Тіхонов Леонід Володимирович
МПК: G01N 23/20
Мітки: рентгенівський, трансмісіонній, кососиметричних, спосіб, зйомок, топографії
Формула / Реферат:
Способ кососимметричных съемок в рентгеновской трансмиссионной топографии, включающий установку кристалла известной ориентации в держателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выводят в плоскость, содержащую ось гониометра, вывод отражающей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной поверхности кристалла пучком...
Спосіб кососиметричний зйомок в широкому рентгенівському пучці за методом аномального походження
Номер патенту: 5036
Опубліковано: 28.12.1994
Автори: Белоцька Ала Олексіївна, Харькова Галина Василівна, Тіхонов Леонід Володимирович
МПК: G01N 23/20
Мітки: спосіб, аномального, кососиметричний, пучці, походження, зйомок, широкому, методом, рентгенівському
Формула / Реферат:
Способ кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального прохождения, включающий установку кристалла известной ориентации в держателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выводят в плоскость, содержащую ось гониометра, вывод отражающей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной поверхности...