G01N 23/20 — за допомогою дифракції, наприклад для дослідження структури кристалів; за допомогою відбитого випромінювання

Номер патенту: 118210

Опубліковано: 25.07.2017

Автори: Войналович Олександр Володимирович, Писаренко Георгій Георгійович, Майло Андрій Миколайович

МПК: G01N 23/20, G01N 3/00

Мітки: спосіб, рентгенівський, ступеня, металевої, визначення, матеріалу, пошкодження, деталі

Формула / Реферат:

Рентгенівський спосіб визначення ступеня втомного пошкодження матеріалу металевої деталі, що включає виготовлення серії однакових зразків з матеріалу, тотожного матеріалу досліджуваної деталі, кожний зразок серії навантажують до створення у ньому механічного напруження певного значення, опромінюють досліджувану деталь і зразки рентгенівським промінням однакових параметрів, а далі фотометруванням співставляють відносний ступінь потемніння...

Номер патенту: 113682

Опубліковано: 10.02.2017

Автор: Семенов Костянтин Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, юстування, дифрактометра, рентгенівського

Формула / Реферат:

Спосіб юстування рентгенівського дифрактометра, який полягає в застосуванні лазера і штатних пристроїв гоніометра, який відрізняється тим, що лазер вставляють в утримувач детектора, і, при відключеному джерелі рентгенівського випромінювання, юстують послідовно положення утримувача, нульової лінії, площини зразка, після чого лазер змінюють на детектор і юстують положення джерела рентгенівського випромінювання.

Номер патенту: 98040

Опубліковано: 10.04.2015

Автори: Батурін Олексій Анатолійович, Михайлов Антон Ігоревич, Михайлов Ігор Федорович

МПК: G01N 23/20

Мітки: вмісту, сталі, спосіб, визначення, вуглецю

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту вуглецю в сталі, що включає в себе опромінення зразка потоком монохроматизованого рентгенівського випромінювання через колімаційну систему і реєстрацію структурних відбиттів цементиту, за інтенсивністю яких визначають вміст вуглецю, який відрізняється тим, що потік монохроматизованого рентгенівського випромінювання отримують за допомогою вторинної мішені, матеріал якої вибирають так, щоб його лінії флюоресценції...

Номер патенту: 90566

Опубліковано: 10.06.2014

Автори: Пекар Ярослав Михайлович, Пекар Володимир Ярославович, Соломон Андрій Михайлович

МПК: G01N 23/20, C30B 35/00

Мітки: кріплення, визначенні, кристалографічних, пристрій, монокристалів, площин

Формула / Реферат:

Пристрій для кріплення монокристалів при визначенні кристалографічних площин, що містить платформу, виконану з можливістю обертання відносно її вертикальної осі, та оправку для кріплення кристала, який відрізняється тим, що платформа, фіксована на поворотному столі дифрактометра, містить регульовану в горизонтальній площині опорну поперечну пластину, а оправка складається з двох квадратних пластин, з'єднаних між собою за допомогою чотирьох...

Номер патенту: 78213

Опубліковано: 11.03.2013

Автори: Богданов Сергій Євгенович, Храновська Катерина Миколаївна, Богданов Євген Іванович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Мазанко Володимир Федорович

МПК: G01N 13/00, G01N 23/00, G01N 23/20 ...

Мітки: розподілу, визначення, монокристала, спосіб, домішок, об'ємі

Формула / Реферат:

Спосіб визначення розподілу домішок в об'ємі монокристала, що включає опромінення монокристала випромінюванням, реєстрацію випромінювання, розрахунок концентрації домішок в монокристалі, який відрізняється тим, що опромінювання монокристала здійснюють рентгенівським випромінюванням, послідовно видаляють шари монокристала товщиною порядку 3-5 довжин абсорбції, вимірюють інтенсивність дифракційних рентгенівських ліній у кожному шарі, визначають...

Номер патенту: 73734

Опубліковано: 10.10.2012

Автори: Кущовий Сергій Миколайович, Венгер Євген Федорович, Матяш Ігор Євгенійович, Порєв Володимир Андрійович, Сердега Борис Кирилович, Маслов Володимир Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: прозорих, пристрій, якості, кристалів, сапфір, діапазоні, оптичному, контролю, вимірювання

Формула / Реферат:

Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.

Номер патенту: 71897

Опубліковано: 25.07.2012

Автори: Тюльпінов Олександр Дмитрович, Родін Леонід Михайлович, Овсієнко Ольга Леонідівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: каталізаторів, визначення, стабільності, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення стабільності каталізаторів, що містять дисперсні метали і оксиди металів, шляхом оцінки їх активності в активованому стані при нагріванні, який відрізняється тим, що прожарювання зразків у рентгенівській термокамері проводять при температурі 600 °C, порівнюють температурні залежності середнього розміру кристалітів і питому поверхню активного компонента різних зразків однотипних дисперсних каталізаторів.

Номер патенту: 65586

Опубліковано: 12.12.2011

Автори: Мілєнін Віктор Володимирович, Редько Роман Анатолійович, Конакова Раїса Василівна, Заяць Микола Сергійович

МПК: G01N 23/20, G01R 31/27

Мітки: ненадійних, гомоепітаксійних, потенційно, відбраковування, gаas, спосіб, структур, основі

Формула / Реферат:

Спосіб відбраковування потенційно ненадійних гомоепітаксійних структур на основі GaAs та ІnР, що базується на вимірюванні спектрів оптичного відбиття в інтервалі довжин хвиль 900-1200 нм, який відрізняється тим, що контрольовані структури після вимірювання спектра оптичного відбиття додатково піддають впливу імпульсного магнітного поля з індукцією 50-70 мТл, тривалістю імпульсу 1,0-4,0 мс, частотою слідування імпульсів 10-20 Гц і тривалістю...

Номер патенту: 90081

Опубліковано: 12.04.2010

Автори: Ротшільд Пітер, Адамс Уільям, Гродзінс Лі, Періч Льюіс У., Челмерс Алекс

МПК: G01V 5/00, G01N 23/20

Мітки: контролю, рентгенівського, мобільного, автомобіль-фургон, допомогою, розсіюванням, зворотним, випромінювання

Формула / Реферат:

1. Система контролю для огляду об'єкта, яка включає прикладний засіб пересування, який характеризується вміщувальним корпусом, джерело проникного випромінювання, яке повністю міститься у корпусі прикладного засобу пересування, для генерації проникного випромінювання, просторовий модулятор для формування проникного випромінювання у пучок для опромінення об'єкта зі змінним у часі скануючим профілем, детекторний модуль, який повністю міститься...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Первак Катерина Вадимівна, Білоцька Алла Олексіївна, Носик Валєрій Лєонідовіч, Оліховський Степан Йосипович, Низкова Ганна Іванівна, Сторижко Володимир Юхимович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Віталій Вадимович, Карнаухов Іван Михайлович, Лень Євген Георгійович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Барабаш Роза Ісаківна, Татаренко Валентин Андрійович, Гинько Ігор Володимирович, Булавін Леонід Анатолійович, Айс Джин Емері, Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: типами, монокристалів, багатопараметричної, дефектів, діагностики, спосіб, декількома, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Номер патенту: 88855

Опубліковано: 25.11.2009

Автори: Семирга Олександр Михайлович, Данільченко Віталій Юхимович, Делідон Руслан Миколайович, Бондар Володимир Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: мартенситної, сплавах, заліза, визначення, частки, спосіб, об'ємної, фазі, основі

Формула / Реферат:

Спосіб визначення об'ємної частки мартенситної фази в сплавах на основі заліза, який включає установку зразка сплаву на гоніометрі рентгенівського дифрактометра, опромінення його пучком характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційних рентгенівських рефлексів від кристалографічних площин аустенітної і мартенситної фаз, вимірювання їх інтегральної інтенсивності, який відрізняється тим, що реєстрацію дифракційних...

Номер патенту: 88419

Опубліковано: 12.10.2009

Автори: Данільченко Віталій Юхимович, Кондратьєв Сергій Павлович, Бондар Володимир Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристала, спосіб, орієнтації, визначення, кристалографічно

Формула / Реферат:

Спосіб визначення кристалографічної орієнтації монокристала, який включає нерухоме закріплення монокристала в гоніометричній головці рентгенівської камери обертання, опромінення монокристала пучком немонохроматизованих характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційної картини монокристала, що обертається, побудову його полюсної фігури і визначення кутового положення кристалографічних площин, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 86246

Опубліковано: 10.04.2009

Автори: Глибицький Геннадій Марксович, Красницька Алла Абрамівна

МПК: G01N 23/20, C09K 19/38

Мітки: речовини, спосіб, впливу, нуклеїнову, кислоту, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення впливу речовини на нуклеїнову кислоту, що передбачає формування рідиннокристалічної дисперсії з нуклеїнової кислоти, який відрізняється тим, що шляхом висушування розчину суміші нуклеїнової кислоти й речовини формують рідиннокристалічну дисперсію та одержують плівку з відповідними текстурами і по величині відношення площі текстур на плівці до площі всієї плівки роблять висновок про вплив речовини.

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Молодкін Віталій Вадимович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Первак Катерина Вадимівна, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Лень Євген Георгійович, Білоцька Алла Олексіївна, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосипович, Низкова Ганна Іванівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, дефектів, типами, багатопараметричної, монокристалів, спосіб, діагностики, декількома

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Номер патенту: 82219

Опубліковано: 25.03.2008

Автори: Азарян Альберт Арамаісович, Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Євген Сергійович, Черкасов Олексій Володимирович, Василенко Вячеслав Євгенійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: кювета, руд, порошкових, проб, методом, випробування, гамма-гамма

Формула / Реферат:

Кювета для випробування порошкових проб руд гамма-гамма-методом, виготовлена у вигляді місткості циліндричної форми із алюмінію, яка відрізняється тим, що кювета має глибину, яка дорівнює , та товщину дна, яка дорівнює , при цьому:

Номер патенту: 27578

Опубліковано: 12.11.2007

Автори: Кочергін Олександр Васильович, Казьоннова Ніна Іванівна, Мороз Микола Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: щільності, спосіб, речовини, неоднорідностей, пошуку

Формула / Реферат:

Спосіб пошуку неоднорідностей щільності речовини, що включає реєстрацію зворотно-розсіяного γ-випромінювання та режими калібрування і пошуку, а алгоритм вимірювання параметрів сигналу та обробки їх процесором має поріг спрацьовування, який відрізняється тим, що в цей алгоритм введені додаткові пороги спрацьовування верхні  та нижні

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Григор'єв Данило Олегович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, монокристалів, досконалості, спосіб, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 78353

Опубліковано: 15.03.2007

Автори: Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Євген Сергійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: вмісту, металів, спосіб, руд, порошкових, пробах, визначення, чорних, важких

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гамма-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяного матеріалом проби випромінювання і, за...

Номер патенту: 78018

Опубліковано: 15.02.2007

Автори: Шведов Леонід Костянтинович, Добровольський Валентин Давидович, Новіков Микола Васильович

МПК: G01N 23/20

Мітки: рентгеноструктурного, аналізу, спосіб, добровольським-шведовим

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, за яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі із поворотом навколо своєї осі на 90°, отримують прямокутну проекцію фокальної плями та реєструють...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Новиков Микола Миколайович, Макара Володимир Арсенійович, Теселько Петро Олексійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: інтегральної, структурної, кристалів, оцінки, спосіб, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Номер патенту: 11811

Опубліковано: 16.01.2006

Автори: Василенко Євген Сергійович, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Лісовой Георгій Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: пробах, вмісту, чорних, порошкових, визначення, спосіб, руд, металів, важких

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гама-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяної матеріалом проби випромінювання і, за її...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Барабаш Роза Ісаківна, Григор'єв Данило Олегович, Шпак Анатолій Петрович, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Гинько Ігор Володимирович, Когут Михайло Тихонович

МПК: G01N 23/20

Мітки: механічної, спосіб, шару, визначення, поверхневого, монокристалах, порушеного, обробки, товщини

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...

Номер патенту: 4680

Опубліковано: 17.01.2005

Автори: Шведов Леонід Костянтинович, Новіков Микола Васильович, Добровольський Валентин Давидович

МПК: G01N 23/20

Мітки: рентгеноструктурного, добровольським-шведовим, спосіб, аналізу

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, згідно з яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі так, щоб забезпечити прямокутну проекцію фокальної плями і дефокусування дифрагованих...

Номер патенту: 62553

Опубліковано: 15.12.2003

Автори: Соломон Андрій Михайлович, Проц Лариса Анатоліївна, Пуга Павло Павлович, Лавріненко Валерій Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, кристалу, якості, контролю

Формула / Реферат:

1. Спосіб контролю якості кристалу, який включає опромінення поверхні досліджуваного та еталонного кристалів монохроматичним рентгенівським променем та зняття кривих качання шляхом вимірювання інтенсивності відбитого рентгенівського променя при різних кутах повороту пучка відносно кристала та порівняння кривих качання, який відрізняється тим, що еталонний та досліджуваний кристали зішліфовують з утворенням площин з ідентичною...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович, Ременюк Петро Іванович, Сушко Володимир Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, оцінки, інтегральної, кристалів, спосіб, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Номер патенту: 59495

Опубліковано: 15.09.2003

Автор: Кумахов Мурадін Абубєкіровіч

МПК: G01N 1/04, G01N 23/20

Мітки: рентгенівський, вимірювально-випробувальний, комплекс

Формула / Реферат:

1. Вимірювально-випробувальний комплекс для досліджень в рентгенівському діапазоні випромінювання одночасно на кількох аналітичних установках, який містить джерело випромінювання, канали транспортування випромінювання до аналітичних установок і апаратуру аналітичних установок (5), який відрізняється тим, що як джерело випромінювання він містить джерело (1) розбіжного рентгенівського випромінювання, принаймні один канал транспортування...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Владімірова Тетяна Петрівна, Решетник Олег Васильович, Остафійчук Богдан Костянтинович, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Кисловський Євген Миколайович, Шпак Анатолій Петрович, Лень Євген Георгійович, Немошкаленко Володимир Володимирович

МПК: G01N 23/00, G01N 23/20

Мітки: досконалості, контролю, структурної, монокристалів, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Номер патенту: 34988

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Кравців Роман Йосипович, Романюк Микола Миколайович, Костецький Олексій Михайлович

МПК: G01N 23/20, G01T 1/202

Мітки: потужності, випромінювання, іонізуючого, дози, вимірювання, оптичний, інтегральної, пристрій

Формула / Реферат:

1. Оптичний пристрій для вимірювання потужності та інтегральної дози іонізуючого випромінювання, що складається з джерела світла, оптичного датчика радіації, відрізняється тим, що в нього введено чутливий елемент, виготовлений з оптично прозорого анізотропного кристалу у вигляді плоскопаралельної пластинки, та установки для вимірювання оптичного двозаломлення на експериментально встановленій фіксованій довжині хвилі, що відповідає...

Номер патенту: 34891

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Константінов Григорій Вікторович, Азарян Альберт Арамаісович, Цибулевський Юрій Євгенович, Василенко В'ячеслав Євгенович

МПК: G01N 23/20, G01V 5/00

Мітки: корисного, конвейєрний, контролю, гірничий, компонента, маси, стрічці, вмісту, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб контролю вмісту корисного компонента в гірничій масі на конвеєрній стрічці, який полягає у тому, що поверхню гірничої маси на конвеєрі розрівнюють підвісним пристроєм, на якому встановлені джерело та детектор гамма-квантів, періодично вимірюють інтенсивність зворотно-розсіяного гірничою масою потоку гамма-квантів і за його величиною визначають вміст корисного компонента у мінеральній сировині, який відрізняється тим, що після...

Номер патенту: 32987

Опубліковано: 15.02.2001

Автори: Коложварі Марія Василівна, Шпирко Григорій Миколайович, Богданова-Борець Олександра Василівна

МПК: G01N 23/20, C30B 33/00

Мітки: орієнтування, монокристалу, спосіб

Текст:

...згідно винаходу, на монокристалі виконують принаймні дві пари паралельних зрізів , визначають взаємне розміщення виконаних зрізів , розділяють монокристал на дві частини, кожна з яких містить принаймні два непаралель-них зрізи, після чого визначають просторове положення по відношенню -до кристалографічних напрямків монокристалу зрізів однієї , переваж 2. но, меншої частини монокристалу 1 по ньому судять про орієнтацію зрізів на другій...

Номер патенту: 31875

Опубліковано: 15.12.2000

Автори: Яковлєва Світлана Вячеславівна, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Смолянський Павло Станиславович

МПК: E21C 39/00, G01N 23/20

Мітки: маси, стрічці, контролю, гірничий, спосіб, конвейєрний, компоненту, вмісту, корисного

Текст:

...та про товщину d шара сировиини на стрічці, а з-за явища кутової анізотропії характер залежності N2, розсіяного на кут 60° випромінювання, від q та d, відрізняється від характеру залежності інтенсивності N/ випромінювання, розсіяного на кут 90°, від тих же параметрів, т.б. NrM2, і в результаті є дві величини інтенсивності випромінювання, кожна з яких по своєму характеризує вміст корисного компоненту q в сировині і величиину d шару...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Осиновський Максим Євгенович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Михайло Валентинович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосифович, Литвинов Юрій Михайлович, Гуреєв Микола Анатолійович, Бідник Дмитро Ілліч, Когут Михайло Тихонович, Остапчук Анатолій Іванович, Низкова Ганна Іванівна, Поленур Олександр Вольфович, Кривицький Владислав Петрович, Кисловський Євген Миколайович, Кшевецький Станіслав Антонович, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, визначення, структурної, розсіюючих, спосіб, досконалості, динамічної

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Номер патенту: 19490

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Юрлов Владислав Михайлович, Федчук Олександр Петрович, Руденко Руслана Олександрівна, Поляков Анатолій Євгенович

МПК: A61P 9/10, G01N 1/40, G01N 23/20, G01N 33/49 ...

Мітки: атерогенних, дісліпідемій, діагностики, спосіб

Формула / Реферат:

Способ диагностики атерогенных дислипидемий, включающий приготовление на подложке липидной фракции плазмы крови с участками кристаллизации, отличающийся тем, что в липидной фракции плазмы крови посредством лазерной дифрактометрии определяют среднюю арифметическую величину участков кристаллизации (D) и при значении D £ 16,3 мкм устанавливают отсутствие атерогенной дислипидемии, а при значении D>16,3 мкм - ее наличие.

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Гурєєв Анатолій Миколайович, Гаврилова Олена Миколаївна, Лось Андрій Вікторович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Кривицький Владислав Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Когут Михайло Тихонович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, динамічної, монокристалів, контролю, структурної, спосіб, експресного, розсіюють

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Номер патенту: 20840

Опубліковано: 07.10.1997

Автори: Красуля Олександр Сергійович, Азарян Володимир Альбертович, Серебреніков Вадим Михайлович, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: G01N 23/20

Мітки: технологічними, переробці, пристрій, мінеральної, контролю, сировини, параметрами, оперативного, управління, конвеєрі, спосіб, реалізації

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного контроля и управления технологическими параметрами при переработке минерального сырья на конвейере заключается в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистрируют интегральный поток обратно-рассеянного излучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что непрерывно контролируют содержание полезного компонента в горной массе, активную...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосипович, Грищенко Тарас Аркадійович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Немошкаленко Володимир Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, структурної, досконалості, контролю, монокристалів

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Номер патенту: 10780

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Бизов Володимир Федорович, Азарян Альберт Арамоисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: технологічного, реалізації, вмісту, мінеральний, спосіб, конвейері, компонента, пристрій, сировини, контролю, корисного, оперативного

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного технологического контроля содержания полезного компонента в ми­неральном сырье на конвейере, заключающийся в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистри­руют интегральный поток обратно рассеянного из­лучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что регистрируют отраженные на малые углы гамма-кванты при горизонтальном L ³ 0,5 Дк...

Номер патенту: 5255

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Греков Олексій Анатолієвич, Утенкова Ольга Володимирівна, Данільченко Віталій Юхимович, Харитонов Арнольд Вікторович

МПК: G01N 23/20

Мітки: камера-монохроматор, ренгенівська

Формула / Реферат:

1. Рентгеновская камера-монохроматор, со­держащая подставку, цилиндрическую кассету, коллиматор и ловушку, установленные на кас­сете, гониометрическую головку, ось враще­ния которой совпадает с осью кассеты, кристалл-монохроматор, закрепленный в кристаллодержателе, отличающаяся тем, что, с целью повышения производительности, кристаллохроматор выполнен сменным и смонтиро­ван на выходном конце коллиматора, установленного с возможностью...

Номер патенту: 5035

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Тіхонов Леонід Володимирович, Харькова Галина Василівна, Охрименко Микола Микитович, Белоцька Ала Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: кососиметричних, топографії, спосіб, рентгенівський, трансмісіонній, зйомок

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в рентгено­вской трансмиссионной топографии, включающий установку кристалла известной ориентации в де­ржателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выво­дят в плоскость, содержащую ось гониометра, вы­вод отражающей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной повер­хности кристалла пучком...

Номер патенту: 5036

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Белоцька Ала Олексіївна, Тіхонов Леонід Володимирович, Харькова Галина Василівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: походження, пучці, спосіб, рентгенівському, методом, зйомок, аномального, кососиметричний, широкому

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального про­хождения, включающий установку кристалла из­вестной ориентации в держателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выводят в плос­кость, содержащую ось гониометра, вывод отража­ющей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной поверхности...