G01C 5/00 — Вимірювання висоти; вимірювання відстаней поперек лінії візування; нівелювання між окремими пунктами; топографічні нівеліри

Автоматизована система визначення астрономічних координат і відхилень прямовисних ліній

Завантаження...

Номер патенту: 115005

Опубліковано: 28.08.2017

Автори: Железняк Олег Олександрович, Бурачек Всеволод Германович, Малік Тетяна Миколаївна, Коберник Інна Михайлівна

МПК: G02B 17/00, G01C 5/00

Мітки: автоматизована, відхилень, прямовисних, визначення, астрономічних, ліній, система, координат

Формула / Реферат:

Автоматизована система визначення астрономічних координат і відхилень прямовисних ліній, що основана на оптико-електронному методі візування зірок поблизу зеніту зі схемою поділу візирних оптико-електронних каналів: широтного і довготного, яка відрізняється тим, що складається з n візирних двоканальних астроблоків, побудованих по згаданій схемі кожний, пов'язаних в єдину систему, з розміщенням астроблоків навколо і поблизу центру астропункту...

Спосіб автоматизованого нівелювання

Завантаження...

Номер патенту: 114461

Опубліковано: 12.06.2017

Автори: Телюков Андрій Віталійович, Малік Тетяна Миколаївна, Бурачек Всеволод Германович, Крячок Сергій Дмитрович, Брик Ярослав Петрович

МПК: G01C 5/00

Мітки: нівелювання, автоматизованого, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб автоматизованого нівелювання, що включає визначення перевищення по двох опорних висотних візирних марках і вимірювання відстані від нівелірного оптико-електронного приладу до візирних марок, який відрізняється тим, що нівелювання виконують одночасно подвійним візуванням по взаємно протилежних горизонтальних напрямках, а також вимірюють величини відхилень зображень центрів візирних марок на мішенях блока матриць нівелірного...

Спосіб визначення нормальних висот

Завантаження...

Номер патенту: 113310

Опубліковано: 10.01.2017

Автори: Боровий Валентин Олександрович, Малік Тетяна Миколаївна, Бурачек Всеволод Германович, Коберник Інна Михайлівна

МПК: G01C 5/00

Мітки: висот, нормальних, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення нормальних висот, оснований на методі астрономічного нівелювання, який відрізняється тим, що розвивають мережу робочих астрономічних пунктів і згущують її до кілометрових і субкілометрових інтервалів між астропунктами, на кожному робочому астропункті вимірюють астрономічні координати  і

Пристрій автоматизованого нівелювання

Завантаження...

Номер патенту: 112334

Опубліковано: 12.12.2016

Автори: Бурачек Всеволод Германович, Малік Тетяна Миколаївна, Брик Ярослав Петрович, Телюков Андрій Віталійович, Крячок Сергій Дмитрович

МПК: G01C 5/00

Мітки: автоматизованого, пристрій, нівелювання

Формула / Реферат:

Пристрій автоматизованого нівелювання, що містить оптико-електронний прилад з матричним фотоприймачем на підставці, електронні блоки керування, обробки, зберігання інформації, індикації, який відрізняється тим, що пристрій виконаний мобільним, підставка містить основу - візок з двигуном і механізмом керування, оснащену ультразвуковим давачем перевищень основи над поверхнею, що нівелюється, вертикальну стійку з механізмом повороту...

Пристрій для визначення відхилень прямовисних ліній

Завантаження...

Номер патенту: 104179

Опубліковано: 10.01.2014

Автори: Коберник Інна Михайлівна, Железняк Олег Олександрович, Іванишин Володимир Андрійович, Бурачек Всеволод Германович

МПК: G01C 5/00

Мітки: відхилень, пристрій, ліній, прямовисних, визначення

Формула / Реферат:

Пристрій для визначення відхилення прямовисних ліній, що містить оптико-механічний блок, осьову систему, трегер та основу, який відрізняється тим, що оптико-механічний блок складається з двох горизонтальних довгофокусних оптичних труб, жорстко з'єднаних в єдиному корпусі алідади з кутом між оптичними осями 90°, при цьому кожна з труб обладнана оптико-механічним компенсатором горизонту, оптичним блоком відхилення візирного променя в зону...

Спосіб визначення відхилень прямовисних ліній

Завантаження...

Номер патенту: 104178

Опубліковано: 10.01.2014

Автори: Бурачек Всеволод Германович, Коберник Інна Михайлівна, Железняк Олег Олександрович, Іванишин Володимир Андрійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: прямовисних, спосіб, ліній, визначення, відхилень

Формула / Реферат:

Спосіб визначення положення прямовисних ліній, заснований на вимірюванні координат зірок поблизу зеніту двома прийомами з поворотом оптичної труби навколо вертикальної осі на 180° та з наступним обчислюванням астрономічних координат пункту та відхилення вискової лінії, використовуючи геодезичні координати пункту, який відрізняється тим, що в кожному прийомі виконують вимірювання в двох каналах цифрової камери: широти та довготи, зі...

Спосіб контролю показників якості книжково-журнальних видань

Завантаження...

Номер патенту: 83225

Опубліковано: 27.08.2013

Автор: Гавенко Світлана Федорівна

МПК: B42C 11/00, G01C 5/00

Мітки: спосіб, видань, якості, контролю, показників, книжково-журнальних

Формула / Реферат:

Спосіб контролю показників якості книжково-журнальної продукції, який полягає в розкриванні блока, накладанні корінцем до низу на гладку поверхню і навантаженні на нього з зусиллям 0,5-3 Н, який відрізняється тим, що розкривання відбувається в трьох місцях почергово на початку, посередині і в кінці блока, зображення розкритого блока фіксують оптичним приладом, а кути розкривання визначають за спеціально розробленою комп'ютерною...

Нівелір-рефрактометр

Завантаження...

Номер патенту: 102584

Опубліковано: 25.07.2013

Автор: Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: нівелір-рефрактометр

Формула / Реферат:

Нівелір-рефрактометр, що містить корпус, в якому розміщено об'єктив з оправою, окуляр, сітка ниток, кремальєрний гвинт і пристосування для встановлення лінії візування в горизонтальне положення, який відрізняється тим, що він додатково містить прикріплену на об'єктив або збоку до його оправи прямовисну відлікову шкалу і обладнаний нівелірною рейкою та плоским дзеркальним відбивачем, встановленим прямовисно на кінці лінії спостереження на...

Пристрій для дистанційного визначення вигину будівель, споруд та конструкцій

Завантаження...

Номер патенту: 78414

Опубліковано: 25.03.2013

Автор: Соколов Володимир Олександрович

МПК: G01B 9/00, G01C 5/00, G01B 11/00 ...

Мітки: будівель, споруд, конструкцій, пристрій, дистанційного, визначення, вигину

Формула / Реферат:

1. Пристрій для дистанційного визначення вигину будівель, споруд та конструкцій, який включає джерело лазерного випромінювання, зовнішню оптичну систему частотно селективного зворотного зв'язку, яка розташована на шляху розповсюдження лазерного випромінювання і має в своєму складі просторово дисперсійний компонент та механічно зв'язаний з об'єктом селектор для перетворення деформаційного переміщення об'єкта в зміну частоти максимуму...

Оптико-електронний вузол

Завантаження...

Номер патенту: 101052

Опубліковано: 25.02.2013

Автори: Ликова Наталія Миколаївна, Малік Тетяна Миколаївна, Кравченко Артем Олегович, Бурачек Всеволод Германович

МПК: G01C 5/00

Мітки: вузол, оптико-електронний

Формула / Реферат:

Оптико-електронний вузол, що містить ланцюг фотоелектричних двоканальних приладів, який містить об'єктиви, джерела світла та фотоприймальні матриці, прилади встановлені з можливістю взаємного візування на джерела світла один одного попарно, який відрізняється тим, що навколо оправи об'єктива кожного оптико-електронного каналу змонтована кільцева смуга з джерел світла з можливістю послідовного увімкнення кожного джерела по одному по колу...

Спосіб визначення та виправлення місця нуля (місця зеніту) для приладів, що вимірюють вертикальні кути

Завантаження...

Номер патенту: 73279

Опубліковано: 25.09.2012

Автори: Перій Сергій Сергійович, Ващенко Володимир Ілліч

МПК: G01C 5/00

Мітки: вертикальні, кути, вимірюють, визначення, приладів, виправлення, зеніту, місця, спосіб, нуля

Формула / Реферат:

Спосіб визначення та виправлення місця нуля (місця зеніту) для приладів, що вимірюють вертикальні кути, який включає наведення горизонтального штриха сітки ниток, приведеного в робоче положення приладу, на ціль і, за необхідності, виконання виправлення положення циліндричного рівня, горизонтального штриха сітки ниток чи компенсатора, у залежності від будови приладу, який відрізняється тим, що суміщають горизонтальний штрих сітки ниток з...

Спосіб визначення та виправлення місця нуля (місця зеніту) для приладів, що вимірюють вертикальні кути

Завантаження...

Номер патенту: 96724

Опубліковано: 25.11.2011

Автори: Ващенко Володимир Ілліч, Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: виправлення, спосіб, вимірюють, приладів, визначення, нуля, кути, зеніту, вертикальні, місця

Формула / Реферат:

Спосіб визначення та виправлення місця нуля (місця зеніту) для приладів, що вимірюють вертикальні кути, який включає наведення горизонтального штриха сітки ниток, приведеного в робоче положення приладу, на ціль і, за необхідності, виконання виправлення положення циліндричного рівня, горизонтального штриха сітки ниток чи компенсатора у залежності від будови приладу, який відрізняється тим, що суміщають горизонтальний штрих сітки ниток з...

Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок

Завантаження...

Номер патенту: 95450

Опубліковано: 10.08.2011

Автори: Крячок Сергій Дмитрович, Малік Тетяна Миколаївна, Білоус Микола Васильович, Бурачек Всеволод Германович

МПК: G01C 5/00

Мітки: пристрій, деформаційних, контролю, положення, марок, висотного

Формула / Реферат:

Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок, що містить двоканальний оптикоелектронний пристрій з об'єктивом та багатоелементним фотоприймачем, з каналами, розвернутими на 180°, кожний з яких має джерело світла з діафрагмою, блок обробки інформації та блок індикації, який відрізняється тим, що двоканальний оптикоелектронний пристрій містить оптичний світлорозподільний блок, робочі відбивні грані якого розташовані під кутом 45°...

Спосіб контролю висотного положення деформаційних марок

Завантаження...

Номер патенту: 95449

Опубліковано: 10.08.2011

Автори: Малік Тетяна Миколаївна, Крячок Сергій Дмитрович, Білоус Микола Васильович, Бурачек Всеволод Германович

МПК: G01C 5/00

Мітки: марок, контролю, деформаційних, спосіб, висотного, положення

Формула / Реферат:

Спосіб контролю висотних відміток деформаційних марок, що ґрунтується на фотоелектричній реєстрації відносного положення трьох суміжних марок, який відрізняється тим, що фотоелектричний вимірювальний прилад (ФЕП) з'єднують з посадковою конструкцією деформаційної марки, світлові випромінювачі з'єднують також з сусідніми по обидва боки від ФЕП деформаційними марками, а світлові потоки від світлових випромінювачів направляють в об'єктив ФЕП і...

Спосіб визначення вертикальної рефракції

Завантаження...

Номер патенту: 60593

Опубліковано: 25.06.2011

Автор: Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: вертикальної, рефракції, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вертикальної рефракції, що включає виконання спостережень зображення шкали рейки, яка встановлена поряд з нівеліром в прямовисному плоскому дзеркальному відбивачі, що встановлений на лінії спостереження, по якій визначають вертикальну рефракцію, який відрізняється тим, що визначають зміщення зображення шкали рейки, яка встановлена на короткій віддалі, із відображенням цієї ж шкали, отриманим в прямовисному плоскому...

Спосіб виконання і юстування основної перевірки нівеліра

Завантаження...

Номер патенту: 60592

Опубліковано: 25.06.2011

Автор: Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: юстування, нівеліра, виконання, спосіб, основної, перевірки

Формула / Реферат:

Спосіб виконання і юстування основної перевірки нівеліра, що включає встановлення променя візування (нівелювання) горизонтально і виправлення, за необхідності, положення циліндричного рівня або горизонтального штриха сітки ниток, чи компенсатора, який відрізняється тим, що суміщують горизонтальний штрих сітки ниток за допомогою елеваційного гвинта або виправних гвинтів сітки ниток нівеліра з центром відбитого власного зображення об'єктива...

Спосіб нівелювання

Завантаження...

Номер патенту: 60589

Опубліковано: 25.06.2011

Автор: Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: спосіб, нівелювання

Формула / Реферат:

Спосіб нівелювання, що включає встановлення лінії візування горизонтально та спостереження зображення проекції точки візування (горизонтальний штрих сітки ниток) на ціль з подальшим врахуванням кривини Землі, який відрізняється тим, що візування виконують по лінії, що з'єднує візирний пристрій з відображенням його в прямовисно встановленому плоскому відбивачі (дзеркалі), який розташовують на кінці напрямку, по якому проводять...

Спосіб визначення вертикальної рефракції

Завантаження...

Номер патенту: 93647

Опубліковано: 25.02.2011

Автор: Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: визначення, рефракції, спосіб, вертикальної

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вертикальної рефракції, що включає виконання спостережень зображення шкали рейки, яка встановлена поряд з нівеліром, в прямовисному плоскому дзеркальному відбивачі, що встановлений на лінії спостереження, по якій визначають вертикальну рефракцію, який відрізняється тим, що визначають зміщення зображення шкали рейки, яка встановлена на короткій віддалі, щодо відображенням цієї ж шкали, отриманого в прямовисному плоскому...

Спосіб нівелювання

Завантаження...

Номер патенту: 93646

Опубліковано: 25.02.2011

Автор: Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: спосіб, нівелювання

Формула / Реферат:

Спосіб нівелювання, що включає встановлення лінії візування горизонтально та спостереження зображення проекції точки візування (горизонтальний штрих сітки ниток) на ціль з подальшим врахуванням кривини Землі, який відрізняється тим, що візування виконують по лінії, що з'єднує візирний пристрій з відображенням його в прямовисно встановленому плоскому відбивачі (дзеркалі), який розташовують на кінці напрямку, по якому проводять...

Спосіб виконання і юстирування основної перевірки нівеліра

Завантаження...

Номер патенту: 93341

Опубліковано: 25.01.2011

Автор: Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: виконання, основної, юстирування, перевірки, спосіб, нівеліра

Формула / Реферат:

Спосіб виконання і юстирування основної перевірки нівеліра, що включає встановлення променя візування (нівелювання) горизонтально і виправлення, за необхідністю, положення циліндричного рівня або горизонтального штриха сітки ниток, чи компенсатора, який відрізняється тим, що суміщають горизонтальний штрих сітки ниток за допомогою елеваційного гвинта або виправних гвинтів сітки ниток нівеліра з центром відбитого власного зображення об'єктива...

Спосіб компарування штрих-кодових рейок

Завантаження...

Номер патенту: 93022

Опубліковано: 27.12.2010

Автори: Літинський Святослав Володимирович, Літинський Володимир Осипович, Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: компарування, рейок, штрих-кодових, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб компарування штрих-кодових рейок, що включає визначення довжин інтервалів штрих-кодових рейок за допомогою цифрових нівелірів, який відрізняється тим, що збоку до вертикально розташованої штрих-кодової рейки прикріплюють контрольний метр, а за окуляром зорової труби цифрового нівеліра - зберігач відеоінформації, наприклад цифровий фотоапарат, у якому одночасно спостерігають зображення штрих-кодової рейки, контрольного метра та сітки...

Спосіб компарування штрих-кодових рейок

Завантаження...

Номер патенту: 55492

Опубліковано: 10.12.2010

Автори: Перій Сергій Сергійович, Літинський Володимир Осипович

МПК: G01C 5/00

Мітки: штрих-кодових, спосіб, рейок, компарування

Формула / Реферат:

Спосіб компарування штрих-кодових рейок, що включає визначення довжин інтервалів штрих-кодових рейок за допомогою цифрових нівелірів, який відрізняється тим, що збоку до вертикально розташованої штрих-кодової рейки прикріплюють контрольний метр, а за окуляром зорової труби цифрового нівеліра зберігач відеоінформації, наприклад цифровий фотоапарат, у якому одночасно спостерігають зображення штрих-кодової рейки, контрольного метра та сітки...

Спосіб контролю просторового положення елементів даху інженерної споруди

Завантаження...

Номер патенту: 92828

Опубліковано: 10.12.2010

Автори: Бурачек Всеволод Германович, Нерус Олександр Володимирович, Малік Тетяна Миколаївна, Буравльов Євгеній Павлович

МПК: G01C 5/00

Мітки: даху, елементів, спосіб, інженерної, споруди, положення, контролю, просторового

Формула / Реферат:

Спосіб контролю просторового положення елементів даху інженерної споруди, оснований на фотоелектричному методі зв'язку між деформаційними марками інженерної споруди і опорними знаками (реперами) за допомогою подвійних фотоелектричних ланцюжків (ПФЕЛ), який відрізняється тим, що в споруді закладають просторову мережу подвійних фотоелектричних ланцюжків горизонтальних і вертикальних, які передають координати геодезичних знаків (реперів)...

Система контролю просторового положення елементів даху інженерної споруди

Завантаження...

Номер патенту: 92827

Опубліковано: 10.12.2010

Автори: Нерус Олександр Володимирович, Буравльов Євгеній Павлович, Малік Тетяна Миколаївна, Бурачек Всеволод Германович

МПК: G01C 5/00

Мітки: система, елементів, споруди, даху, просторового, контролю, інженерної, положення

Формула / Реферат:

Система контролю просторового положення елементів даху інженерної споруди, що складається з опорних знаків і деформаційних марок з посадочними майданчиками, на яких встановлені подвійні фотоелектричні ланцюжки (ПФЕЛ), яка відрізняється тим, що ПФЕЛ виконані як просторова геодезична мережа у вигляді прямокутників у вертикальних площинах, які розміщені по контуру (периметру) споруди, при цьому горизонтальні ПФЕЛ встановлені на рівні основи...

Спосіб визначення середньоінтегрального коефіцієнта вертикальної рефракції

Завантаження...

Номер патенту: 49648

Опубліковано: 11.05.2010

Автори: Літинський Володимир Осипович, Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: спосіб, рефракції, вертикальної, середньоінтегрального, коефіцієнта, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення середньоінтегрального коефіцієнта вертикальної рефракції, що включає виконання спостережень, який відрізняється тим, що виконують подвійні вимірювання перевищення способом "вперед" в прямому і зворотному напрямі по одному і тому ж плечу нівелювання та обчислюють середньоінтегральний коефіцієнт вертикальної рефракції.

Спосіб визначення середньоінтегрального коефіцієнта вертикальної рефракції

Завантаження...

Номер патенту: 89466

Опубліковано: 25.01.2010

Автори: Літинський Володимир Осипович, Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: середньоінтегрального, рефракції, коефіцієнта, спосіб, визначення, вертикальної

Формула / Реферат:

Спосіб визначення середньоінтегрального коефіцієнта вертикальної рефракції, що включає виконання вимірювань по візирному променю, який відрізняється тим, що виконують подвійні вимірювання перевищення способом "вперед" в прямому і зворотному напрямку по одному і тому ж плечу нівелювання та обчислюють середньоінтегральний коефіцієнт вертикальної рефракції.

Спосіб та пристрій для вимірювання перевищень

Завантаження...

Номер патенту: 46413

Опубліковано: 25.12.2009

Автори: Нисторяк Іван Олександрович, Малік Тетяна Миколаївна, Бурачек Всеволод Германович, Параніч Віктор Петрович

МПК: G01C 5/00

Мітки: вимірювання, спосіб, пристрій, перевищень

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання перевищень, що заснований на методі геометричного нівелювання при використанні автоматизованого нівеліра з багатоелементним матричним фотоприймачем та двох рейок з нанесеними на їх поверхню шкалами, який відрізняється тим, що відліки на рейках виконують за V-подібними індексами на рейках з горизонтальною орієнтацією бісектриси V-подібного індексу, рядки мішені орієнтують багатоелементним матричним фотоприймачем по напрямку...

Система попередження наближення до земної поверхні

Завантаження...

Номер патенту: 44644

Опубліковано: 12.10.2009

Автори: Калініченко Володимир Володимирович, Козлов Анатолій Павлович

МПК: G01C 5/00

Мітки: наближення, поверхні, система, попередження, земної

Формула / Реферат:

1. Система попередження наближення до земної поверхні, що являє собою комплекс інформаційних електроємностей, що складена з вимірювального мосту з високопотенціальними електродами, які електрично з'єднані між собою і розміщені на кінцевих поверхнях повітряного судна та низькопотенціального електрода, які складають ємнісний перетворювач врівноважувального конденсатора та системи автоматичного цифрового врівноважування, яка відрізняється тим,...

Спосіб геометричного нівелювання “вперед, назад”

Завантаження...

Номер патенту: 41429

Опубліковано: 25.05.2009

Автор: Перій Сергій Сергійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: назад, геометричного, спосіб, нівелювання, вперед

Формула / Реферат:

Спосіб геометричного нівелювання, що включає вимірювання перевищення способом „вперед”, який відрізняється тим, що виконують подвійні вимірювання перевищення способом "вперед" в прямому і зворотному напрямі по одному і тому ж плечу нівелювання, при цьому результат нівелювання контролюють по стабільності кута сумарної негоризонтальності візирного променя.

Спосіб візування зоровими трубами геодезичних приладів

Завантаження...

Номер патенту: 86562

Опубліковано: 27.04.2009

Автори: Літинський Святослав Володимирович, Шевченко Тарас Георгієвич, Літинський Володимир Осипович

МПК: G01C 5/00

Мітки: зоровими, приладів, трубами, візування, спосіб, геодезичних

Формула / Реферат:

Спосіб візування зоровими трубами геодезичних приладів, який полягає у тому, що наводять зорову трубу геодезичного приладу на ціль, суміщають з візирною ціллю відповідний штрих сітки ниток і відлічують кутомірні кола чи рейку, який відрізняється тим, що за окуляром зорової труби на її оптичній осі додатково встановлюють цифровий носій інформації, наприклад цифрову відеокамеру, за умови розташування її об'єктива у задній фокусній площині...

Спосіб тіньового нівелювання

Завантаження...

Номер патенту: 86554

Опубліковано: 27.04.2009

Автори: Хропот Сергій Григорович, Шевченко Тарас Георгійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: нівелювання, тіньового, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб тіньового нівелювання, який полягає у тому, що встановлюють джерело світла навпроти контрольованого об'єкта, проектують положення тіні об'єкта на прямовисний екран у вигляді зрізаної тіні і визначають по краю зрізаної тіні висотне положення об'єкта, який відрізняється тим, що положення краю зрізаної тіні визначають за допомогою фотоелектричного давача, який встановлюють з можливістю вертикального переміщення у прямовисній площині,...

Спосіб визначення планового положення конструкції

Завантаження...

Номер патенту: 86174

Опубліковано: 25.03.2009

Автори: Глотов Володимир Миколайович, Мороз Олександр Іванович, Шевченко Тарас Георгійович, Третяк Корнилій Романович

МПК: G01C 5/00

Мітки: планового, спосіб, визначення, конструкції, положення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення планового положення конструкції, який включає проектування точок конструкції донизу на горизонтальну поверхню, закріплення створу спроектованими точками конструкції і визначення положення конструкції відносно створу, який відрізняється тим, що проектування точок конструкції здійснюють з використанням електронного тахеометра, встановленого за умови видимості на найбільш віддалені одна від одної точки осі конструкції, а потім...

Спосіб визначення вертикальної рефракції

Завантаження...

Номер патенту: 85808

Опубліковано: 25.02.2009

Автори: Петлюк Іван Васильович, Шевченко Тарас Георгійович, Мороз Олександр Іванович, Островський Аполлінарій Львович

МПК: G01C 5/00

Мітки: вертикальної, рефракції, спосіб, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вертикальної рефракції, який полягає у тому, що встановлюють на однорідній горизонтальній поверхні на оптимальній для нівелювання віддалі нівелір і рейку, періодично здійснюють відліки у нівелірі і за зміною відліків у часі визначають величину вертикальної рефракції, який відрізняється тим, що рейку встановлюють рядом з нівеліром, а навпроти рейки, на однаковій оптимальній для нівелювання віддалі від нівеліра і рейки,...

Спосіб визначення вертикальної рефракції

Завантаження...

Номер патенту: 85807

Опубліковано: 25.02.2009

Автори: Мороз Олександр Іванович, Шевченко Тарас Георгійович, Островський Аполлінарій Львович, Петлюк Іван Васильович

МПК: G01C 5/00

Мітки: спосіб, вертикальної, визначення, рефракції

Формула / Реферат:

Cпосіб визначення вертикальної рефракції, який полягає у тому, що на однорідній горизонтальній поверхні встановлюють нівелір і рейку як під час нівелювання, періодично відлічують у нівелірі і визначають величину вертикальної рефракції, який відрізняється тим, що навпроти рейки на однаковій віддалі від неї та від нівеліра встановлюють плоский дзеркальний відбивач з можливістю нахилу його у вертикальній площині відносно прямовисного положення,...

Спосіб визначення вертикальних деформацій земної поверхні

Завантаження...

Номер патенту: 37852

Опубліковано: 10.12.2008

Автор: Светницький Сергій Олексійович

МПК: G01C 5/00

Мітки: поверхні, спосіб, вертикальних, визначення, деформацій, земної

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вертикальних деформацій земної поверхні, який включає використання диференціальної залежності, що зв'язує горизонтальні і вертикальні деформації земної поверхні, який відрізняється тим, що систематично виміряють довжини інтервалів між ґрунтовими реперами, визначають горизонтальні деформації з урахуванням початкової і кожної подальшої серії спостережень і визначають вертикальні деформації на основі заміряних горизонтальних...

Система контролю просторового положення елементів конструкцій магістральних нафтогазопроводів

Завантаження...

Номер патенту: 84605

Опубліковано: 10.11.2008

Автори: Крисенко Максим Вікторович, Бурачек Всеволод Германович, Боровий Валентин Олександрович, Буравлев Євгеній Павлович

МПК: G01C 5/00

Мітки: система, магістральних, контролю, нафтогазопроводів, конструкцій, елементів, просторового, положення

Формула / Реферат:

Система контролю просторового положення елементів конструкцій магістральних нафтогазопроводів, що містить подвійний оптико-електричний ланцюжок, розміщений на конструкції, пристрої оптико-електричного ланцюжка розміщені в блоках, які жорстко закріплені на конструкції та електрично з'єднані з електронними блоками - блоком керування, блоком обробки інформації та блоком запису і збереження інформації, яка відрізняється тим, що подвійний...

Пристрій для контролю обладнання у замкнутій камері

Завантаження...

Номер патенту: 36439

Опубліковано: 27.10.2008

Автори: Підгорний Володимир Іванович, Падченко Олена Олександрівна, Васильєва Лариса Олексіївна

МПК: G01D 11/00, G01C 5/00

Мітки: пристрій, камери, замкнутий, контролю, обладнання

Формула / Реферат:

Пристрій для контролю обладнання у замкнутій камері, що містить лазер та оптичний перетворювач світлового пучка, який відрізняється тим, що оптичний перетворювач виконаний у вигляді виска, який містить набір кільцевих кварцових лінз, які закріплені в обоймі у єдиний стрижень-висок, який вільно переміщується у будь-якому напрямі у контрольованій камері.

Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок

Завантаження...

Номер патенту: 35741

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Крячок Сергій Дмитрович, Малік Тетяна Миколаївна, Бурачек Всеволод Германович, Білоус Микола Васильович

МПК: G01C 5/00

Мітки: контролю, деформаційних, положення, пристрій, висотного, марок

Формула / Реферат:

Пристрій контролю висотного положення деформаційних марок, що містить двоканальний оптикоелектронний пристрій з об’єктивом та багатоелементним фотоприймачем, з каналами, розвернутими на 180°, кожний з яких має джерело світла з діафрагмою, блок обробки інформації та блок індикації, який відрізняється тим, що двоканальний оптикоелектронний пристрій містить оптичний світлорозподільний блок, робочі відбивні грані якого розташовані під кутом 45°...

Спосіб контролю висотного положення деформаційних марок

Завантаження...

Номер патенту: 35740

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Бурачек Всеволод Германович, Білоус Микола Васильович, Крячок Сергій Дмитрович, Малік Тетяна Миколаївна

МПК: G01C 5/00

Мітки: висотного, деформаційних, спосіб, положення, марок, контролю

Формула / Реферат:

Спосіб контролю висотного положення деформаційних марок, що ґрунтується на фотоелектричній реєстрації відносного положення трьох суміжних марок, який відрізняється тим, що фотоелектричний вимірювальний прилад (ФЕП) з'єднують з посадковою конструкцією деформаційної марки, світлові випромінювачі з'єднують також з сусідніми по обидва боки від ФЕП деформаційними марками, а світлові потоки від світлових випромінювачів направляють в об'єктив ФЕП і...

Спосіб закріплення прямої лінії на місцевості

Завантаження...

Номер патенту: 84362

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Вишневський Юрій Вікторович, Мороз Олександр Іванович, Шевченко Тарас Георгійович, Колєнніков Андрій Петрович

МПК: G01C 5/00, G01B 7/02

Мітки: місцевості, спосіб, закріплення, лінії, прямої

Формула / Реферат:

Спосіб закріплення прямої лінії на місцевості, згідно з яким закріплюють на місцевості допоміжну пряму двома кінцевими точками, координати яких відомі, і визначають її горизонтальну проекцію, позначають на місцевості дві кінцеві точки прямої, яку потрібно закріпити, визначають координати цих точок відносно відповідних кінцевих точок допоміжної прямої, визначають горизонтальні проекції віддалей між цими точками і закріплюють лінію на...