Бондаренко Максим Олексійович

Тепловізор

Завантаження...

Номер патенту: 119337

Опубліковано: 25.09.2017

Автори: Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Максим Олексійович, Андрієнко Володимир Олександрович, Ральченко Світлана Петрівна, Ткаченко Валентин Федорович

МПК: G01J 5/08, H04N 5/33

Мітки: тепловізор

Формула / Реферат:

Тепловізор, що містить послідовно з'єднані вузол реєстрації у вигляді матричного радіометра, оптичну систему, а також блок обробки інформації, який відрізняється тим, що до складу оптичної системи входить прогресивна лінза, виготовлена з матеріалу, який працює в інфрачервоному діапазоні і яка має можливість кругового обертання, чим відбувається плавна зміна фокусної відстані оптичної системи, що, в свою чергу, дозволяє підтримувати в...

Спосіб оцінки зносостійкості тонких покриттів

Завантаження...

Номер патенту: 117635

Опубліковано: 26.06.2017

Автори: Тележинський Дмитро Віталійович, Бондаренко Максим Олексійович, Білокінь Світлана Олександрівна, Антонюк Віктор Степанович

МПК: G01N 3/46, G01N 19/04

Мітки: спосіб, зносостійкості, покриттів, оцінки, тонких

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки зносостійкості тонких покриттів, що включає визначення значень критерію зносостійкості тонких покриттів, сформованих на твердих підкладинках за розмірами треку, що утворився при різних навантаженнях на досліджувану поверхню наноіндентера, як останній використано кремнієвий зонд конічної форми для атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що кремнієвий зонд додатково модифікують тонким вуглецевим покриттям, проводять...

Пристрій діагностування запам’ятовуючих пристроїв

Завантаження...

Номер патенту: 115328

Опубліковано: 10.04.2017

Автори: Білокінь Світлана Олександрівна, Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Юлія Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Бондаренко Максим Олексійович

МПК: G06F 11/00, H05F 3/06

Мітки: діагностування, пристроїв, пристрій, запам'ятовуючих

Формула / Реферат:

Пристрій діагностування запам'ятовуючих пристроїв, згідно з яким контролюють параметри зовнішнього середовища, який включає вібродвигун, кварцові лампи, коротронний розрядник, а також датчики, вихід яких зв'язаний з процесором, який відрізняється тим, що створюють екстремальні умови за допомогою вітродвигуна, який разом з кварцовою лампою і коротронним розрядником входить до складу пристрою, причому вібродвигун з'єднаний через вібропідвіси з...

Спосіб діагностування запам’ятовуючих пристроїв

Завантаження...

Номер патенту: 114992

Опубліковано: 27.03.2017

Автори: Білокінь Світлана Олександрівна, Бондаренко Юлія Юріївна, Бондаренко Максим Олексійович, Антонюк Віктор Степанович, Андрієнко Володимир Олександрович

МПК: G06F 11/22

Мітки: діагностування, запам'ятовуючих, пристроїв, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб діагностування запам'ятовуючих пристроїв шляхом їх тестування, який відрізняється тим, що для його провадження моделюють критичні умови експлуатації запам'ятовуючих пристроїв, вводять часовий інтервал, при цьому підвищують температуру за допомогою кварцових ламп, додатково вводять вібрації, а також створюють електричне поле коротронним розрядником, фіксують температури, рівень вібрацій і напруженість електростатичного поля, будують...

Спосіб позиціонування лазерного променя на зонд атомно-силового мікроскопа

Завантаження...

Номер патенту: 91523

Опубліковано: 10.07.2014

Автори: Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Максим Олексійович, Білокінь Світлана Олександрівна, Яценко Ірина В'ячеславівна, Фіалковський Павло Олександрович, Коваленко Юрій Іванович

МПК: G01B 11/03

Мітки: лазерного, спосіб, мікроскопа, атомно-силового, зонд, позиціонування, променя

Формула / Реферат:

Спосіб позиціонування лазерного променя на зонд атомно-силового мікроскопа, що включає розташування еліптичного дзеркала з тришаровим оксидним покриттям по напрямку ходу лазерного променя при його фокусуванні на зонді, який відрізняється тим, що генерують лазерне випромінювання і направляють на еліптичне дзеркало, яке додатково розташовують на шляху розповсюдження лазерного променя до зонда, причому попередньо на поверхню еліптичного...

Спосіб видалення залишкового трибоелектричного заряду

Завантаження...

Номер патенту: 91425

Опубліковано: 10.07.2014

Автори: Білокінь Світлана Олександрівна, Бондаренко Максим Олексійович, Бондаренко Юлія Юріївна, Антонюк Віктор Степанович

МПК: H05F 3/00

Мітки: залишкового, заряду, спосіб, трибоелектричного, видалення

Формула / Реферат:

Спосіб видалення залишкового трибоелектричного заряду, який виникає на діелектричній поверхні в процесі її сканування методом атомно-силової мікроскопії, що виконується за рахунок формування в цій поверхні зони провідності, в якій відбувається стікання заряду, утвореного внаслідок тертя об неї кремнієвого зонда атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що формують зону провідності в місці контакту зонда з діелектричною поверхнею...

Спосіб оцінки мікротвердості

Завантаження...

Номер патенту: 87907

Опубліковано: 25.02.2014

Автори: Антонюк Віктор Степанович, Бондаренко Максим Олексійович, Білокінь Світлана Олександрівна

МПК: G01N 3/40

Мітки: мікротвердості, оцінки, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки мікротвердості, що включає визначення значень мікротвердості на поверхні зразка за розміром відновленого відбитка при різних навантаженнях на наноіндентор, як такий використано кремнієвий зонд конічної форми для атомно-силового мікроскопа, який відрізняється тим, що додатково кремнієвий зонд модифікують тонким вуглецевим покриттям, проводять сканування зразка, при цьому наноіндентування поверхні виконують при постійно...

Спосіб виготовлення зразка для металографічних досліджень

Завантаження...

Номер патенту: 40531

Опубліковано: 10.04.2009

Автори: Батраченко Олександр Вікторович, Бондаренко Максим Олексійович, Котляр Олександр Вікторович, Бойко Володимир Петрович

МПК: G01N 1/28

Мітки: зразка, досліджень, спосіб, виготовлення, металографічних

Формула / Реферат:

Спосіб виготовлення зразка для металографічних досліджень, що включає технологічну обробку досліджуваної поверхні, вирізання шліфа, полірування та травлення, який відрізняється тим, що вирізання шліфа на зразку виконують перед технологічною обробкою досліджуваної поверхні, технологічній обробці підлягають одразу декілька зразків, які встановлені та закріплені в обоймі, що виконана із однойменного або різнойменного із зразками матеріалу, таким...

Пристрій для електронно-променевої обробки виробів

Завантаження...

Номер патенту: 4752

Опубліковано: 15.02.2005

Автори: Рудь Максим Петрович, Ващенко Вячеслав Андрійович, Бондаренко Максим Олексійович, Канашевич Георгій Вікторович, Яценко Ірина В'ячеславівна

МПК: H01J 37/305, C03B 29/00

Мітки: пристрій, виробів, електронно-променевої, обробки

Формула / Реферат:

Пристрій для електронно-променевої обробки виробів, який вміщує електронну гармату з приводом, а також теплові екрани з нагріваючими елементами і блок транспортування виробів, який відрізняється тим, що піч нагріву і піч охолодження виробів розташовані симетрично відносно електронної гармати,  на одній прямій паралельно  траєкторії руху виробів і можуть працювати незалежно в різних температурних режимах, а теплові екрани печей захищають...

Пристрій для електронно-променевого полірування виробів

Завантаження...

Номер патенту: 4177

Опубліковано: 17.01.2005

Автори: Рудь Максим Петрович, Бойко Володимир Петрович, Канашевич Георгій Вікторович, Яценко Ірина В'ячеславівна, Бондаренко Максим Олексійович, Коваленко Юрій Іванович, Ващенко Вячеслав Андрійович

МПК: C03B 29/00, H01J 37/305

Мітки: полірування, виробів, електронно-променевого, пристрій

Формула / Реферат:

Пристрій для електронно-променевого полірування виробів містить ниткоподібний катод електронної гармати і блок завантаження виробів, встановлений з можливістю обертання, який відрізняється тим, що в пристрій додатково введено випарник, що забезпечує нанесення тонких металевих плівок на поверхню оптичного матеріалу, після чого поверхня полірується стрічковим електронним потоком з одночасним вплавленням металевої плівки.

Спосіб виявлення дефектного приповерхневого шару оптичного скла

Завантаження...

Номер патенту: 67516

Опубліковано: 15.06.2004

Автори: Канашевич Георгій Вікторович, Дубровська Галина Миколаївна, Бондаренко Максим Олексійович

МПК: C03C 15/00

Мітки: дефектного, шару, спосіб, виявлення, приповерхневого, скла, оптичного

Формула / Реферат:

Спосіб виявлення дефектного приповерхневого шару оптичного скла, що включає попередній розігрів зразка до 400...520°С, опромінювання зразка електронним потоком та переміщення його вздовж поверхні зразка зі швидкістю 0,1...50 см/с, який відрізняється тим, що питома потужність, з якою ведуть навантаження зразка електронним потоком складає , а зразок підлягає наступному...