Білоцька Алла Олексіївна

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Лень Євген Георгійович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Сторижко Володимир Юхимович, Оліховський Степан Йосипович, Татаренко Валентин Андрійович, Молодкін Вадим Борисович, Булавін Леонід Анатолійович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Гинько Ігор Володимирович, Айс Джин Емері, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Віталій Вадимович, Карнаухов Іван Михайлович, Первак Катерина Вадимівна, Білоцька Алла Олексіївна, Барабаш Роза Ісаківна, Носик Валєрій Лєонідовіч

МПК: G01N 23/20

Мітки: багатопараметричної, монокристалів, діагностики, типами, декількома, структурної, дефектів, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Гинько Ігор Володимирович, Лень Євген Георгійович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Віталій Вадимович, Ковальчук Михайло Валентинович, Шпак Анатолій Петрович, Оліховський Степан Йосипович, Первак Катерина Вадимівна, Кисловський Євген Миколайович, Білоцька Алла Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: декількома, дефектів, діагностики, типами, спосіб, структурної, багатопараметричної, монокристалів

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Григор'єв Данило Олегович, Білоцька Алла Олексіївна, Барабаш Роза Ісаківна, Когут Михайло Тихонович, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, структурної, спосіб, визначення, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки

Завантаження...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Григор'єв Данило Олегович, Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалах, поверхневого, шару, спосіб, порушеного, обробки, механічної, визначення, товщини

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...