Білоцька Алла Олексіївна

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Айс Джин Емері, Сторижко Володимир Юхимович, Гинько Ігор Володимирович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Білоцька Алла Олексіївна, Лень Євген Георгійович, Первак Катерина Вадимівна, Карнаухов Іван Михайлович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Молодкін Віталій Вадимович, Булавін Леонід Анатолійович, Барабаш Роза Ісаківна, Оліховський Степан Йосипович, Татаренко Валентин Андрійович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч

МПК: G01N 23/20

Мітки: дефектів, монокристалів, спосіб, діагностики, структурної, багатопараметричної, типами, декількома

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Лень Євген Георгійович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Віталій Вадимович, Оліховський Степан Йосипович, Первак Катерина Вадимівна, Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Ковальчук Михайло Валентинович

МПК: G01N 23/20

Мітки: декількома, типами, багатопараметричної, монокристалів, спосіб, дефектів, діагностики, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Низкова Ганна Іванівна, Гинько Ігор Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Григор'єв Данило Олегович, Білоцька Алла Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, досконалості, структурної, спосіб, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки

Завантаження...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Когут Михайло Тихонович, Григор'єв Данило Олегович, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Барабаш Роза Ісаківна

МПК: G01N 23/20

Мітки: обробки, механічної, визначення, товщини, шару, монокристалах, порушеного, поверхневого, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...