Білоцька Алла Олексіївна

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Карнаухов Іван Михайлович, Лень Євген Георгійович, Татаренко Валентин Андрійович, Первак Катерина Вадимівна, Оліховський Степан Йосипович, Айс Джин Емері, Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович, Булавін Леонід Анатолійович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Сторижко Володимир Юхимович, Гинько Ігор Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Барабаш Роза Ісаківна, Носик Валєрій Лєонідовіч, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Віталій Вадимович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, монокристалів, типами, декількома, дефектів, структурної, багатопараметричної, діагностики

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Первак Катерина Вадимівна, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Кисловський Євген Миколайович, Лень Євген Георгійович, Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Низкова Ганна Іванівна, Ковальчук Михайло Валентинович, Молодкін Віталій Вадимович, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: типами, дефектів, монокристалів, спосіб, діагностики, багатопараметричної, декількома, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Барабаш Роза Ісаківна, Білоцька Алла Олексіївна, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Григор'єв Данило Олегович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, структурної, досконалості, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки

Завантаження...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Григор'єв Данило Олегович, Барабаш Роза Ісаківна, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалах, шару, товщини, порушеного, механічної, визначення, обробки, спосіб, поверхневого

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...