Білоцька Алла Олексіївна

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Первак Катерина Вадимівна, Булавін Леонід Анатолійович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Віталій Вадимович, Шпак Анатолій Петрович, Сторижко Володимир Юхимович, Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович, Татаренко Валентин Андрійович, Лень Євген Георгійович, Барабаш Роза Ісаківна, Айс Джин Емері, Карнаухов Іван Михайлович, Оліховський Степан Йосипович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч

МПК: G01N 23/20

Мітки: дефектів, багатопараметричної, діагностики, декількома, типами, монокристалів, структурної, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Ковальчук Михайло Валентинович, Оліховський Степан Йосипович, Шпак Анатолій Петрович, Білоцька Алла Олексіївна, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович, Молодкін Вадим Борисович, Первак Катерина Вадимівна, Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, монокристалів, діагностики, декількома, спосіб, багатопараметричної, типами, дефектів

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович, Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Когут Михайло Тихонович, Григор'єв Данило Олегович, Низкова Ганна Іванівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, визначення, структурної, спосіб, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки

Завантаження...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Барабаш Роза Ісаківна, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: шару, товщини, визначення, порушеного, обробки, поверхневого, механічної, монокристалах, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...