Барабаш Роза Ісаківна

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Лень Євген Георгійович, Низкова Ганна Іванівна, Гинько Ігор Володимирович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Карнаухов Іван Михайлович, Кисловський Євген Миколайович, Білоцька Алла Олексіївна, Татаренко Валентин Андрійович, Сторижко Володимир Юхимович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Шпак Анатолій Петрович, Айс Джин Емері, Оліховський Степан Йосипович, Барабаш Роза Ісаківна, Молодкін Віталій Вадимович, Булавін Леонід Анатолійович, Первак Катерина Вадимівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: багатопараметричної, монокристалів, спосіб, декількома, дефектів, діагностики, структурної, типами

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Білоцька Алла Олексіївна, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, визначення, спосіб, монокристалів, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки

Завантаження...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Гинько Ігор Володимирович, Барабаш Роза Ісаківна, Григор'єв Данило Олегович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: механічної, визначення, спосіб, шару, монокристалах, поверхневого, обробки, товщини, порушеного

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...