Барабаш Роза Ісаківна

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Татаренко Валентин Андрійович, Гинько Ігор Володимирович, Сторижко Володимир Юхимович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Первак Катерина Вадимівна, Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович, Айс Джин Емері, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Носик Валєрій Лєонідовіч, Барабаш Роза Ісаківна, Оліховський Степан Йосипович, Білоцька Алла Олексіївна, Карнаухов Іван Михайлович, Шпак Анатолій Петрович, Булавін Леонід Анатолійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, багатопараметричної, дефектів, декількома, структурної, спосіб, діагностики, типами

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Когут Михайло Тихонович, Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович, Григор'єв Данило Олегович, Гинько Ігор Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, монокристалів, структурної, досконалості, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки

Завантаження...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Григор'єв Данило Олегович, Білоцька Алла Олексіївна, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: товщини, спосіб, обробки, поверхневого, визначення, механічної, монокристалах, шару, порушеного

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...