Барабаш Роза Ісаківна

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів

Завантаження...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Сторижко Володимир Юхимович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Молодкін Віталій Вадимович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Карнаухов Іван Михайлович, Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Татаренко Валентин Андрійович, Лень Євген Георгійович, Барабаш Роза Ісаківна, Білоцька Алла Олексіївна, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Булавін Леонід Анатолійович, Айс Джин Емері, Низкова Ганна Іванівна, Первак Катерина Вадимівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: декількома, спосіб, діагностики, типами, монокристалів, дефектів, багатопараметричної, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Григор'єв Данило Олегович, Білоцька Алла Олексіївна, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Барабаш Роза Ісаківна

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, досконалості, спосіб, визначення, монокристалів

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб визначення товщини порушеного поверхневого шару в монокристалах після механічної обробки

Завантаження...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Григор'єв Данило Олегович, Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: поверхневого, монокристалах, товщини, визначення, шару, спосіб, порушеного, механічної, обробки

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...