Патенти з міткою «досконалості»

Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості

Завантаження...

Номер патенту: 106662

Опубліковано: 10.05.2016

Автори: Кравченко Ілля Іванович, Єщенко Іван Олексійович, Мисливий Валентин Михайлович, Самусенко Олег Васильович, Карчинський Віктор Олександрович, Зарицький Олександр Федорович

МПК: A63B 17/04, A63B 21/00, A63B 21/06 ...

Мітки: етапі, досконалості, фізичної, комплекс, виконання, вправ, реабілітації, спортивних, снарядів

Формула / Реферат:

1. Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ з на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості, до складу якого входять шведська стінка з рядом щаблів та турніком зверху, який відрізняється тим, що нахильна полиця виконана з шарніром усередині, з механізмом фіксації для забезпечення тих чи інших вправ, а дві пари вух знизу забезпечують те чи інше поздовжнє положення лавки.2. Комплекс за п. 1, який відрізняється тим, що...

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 88195

Опубліковано: 11.03.2014

Автори: Будяну Раду Георгійович, Варванець Юрій Вікторович, Русіло Петро Олександрович, Костюк Володимир Володимирович, Грабчак Володимир Іванович, Калінін Олександр Марковійович

МПК: G01N 27/27

Мітки: озброєння, військової, рівня, зразків, техніки, досконалості, однотипних, оцінювання, спосіб, технічної

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму добутків балів технічних і тактико-технічних характеристик, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, на коефіцієнт вагомості технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок

Завантаження...

Номер патенту: 83392

Опубліковано: 10.09.2013

Автори: Світличний Віталій Анатольевич, Хорошайло Юрій Євгенійович

МПК: G01N 27/90

Мітки: плівок, неферомагнітних, спосіб, резонансний, тонких, досконалості, структури, контролю, вихрострумовий

Формула / Реферат:

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок, що включає збудження в об'єкті контролю вихрових струмів змінним електромагнітним полем, зразок тонких неферомагнітних плівок розміщують у високочастотне поле між плоскими котушками вихрострумового перетворювача (ВСП) екранного типу, який відрізняється тим, що для виявлення неоднорідності структури додатково зразок тонких неферомагнітних плівок...

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 72694

Опубліковано: 27.08.2012

Автори: Калінін Олександр Марковійович, Чорний Микола Васильович, Купріненко Олександр Миколайович, Русіло Петро Олександрович, Варванець Юрій Вікторович

МПК: G01N 27/27

Мітки: однотипних, озброєння, напрямків, удосконалення, вибору, технічної, зразків, досконалості, рівня, техніки, спосіб, військової

Формула / Реферат:

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки, який полягає у порівнянні технічних і тактико-технічних характеристик (показників), який відрізняється тим, що напрям удосконалення вибирають на підставі порівняння показників рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки за профілем технічної досконалості (пелюстковою діаграмою).

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 72693

Опубліковано: 27.08.2012

Автор: Русіло Петро Олександрович

МПК: G01N 27/27

Мітки: оцінювання, технічної, озброєння, рівня, досконалості, зразків, військової, однотипних, спосіб, техніки

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначені комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму балів, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 70090

Опубліковано: 25.05.2012

Автори: Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович, Качур Наталія Володимирівна, Ліптуга Анатолій Іванович, Христосенко Роман Володимирович, Лабузов Олександр Євгенійович

МПК: G01N 21/39

Мітки: контролю, структурної, ступеня, досконалості, спосіб, кристалічних, лазерного, матеріалів

Формула / Реферат:

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів, в якому зразок опромінюють лазерним випромінюванням, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості кристала, який відрізняється тим, що між зразком та джерелом випромінювання розміщують діафрагму зі щілиною або отвором, розмір якого дорівнює довжині хвилі випромінювання, за зразком встановлюють прилад, що приймає випромінювання, що пройшло через...

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 65254

Опубліковано: 25.11.2011

Автори: Калінін Олександр Марковійович, Варванець Юрій Вікторович, Русіло Петро Олександрович, Чорний Микола Васильович

МПК: G01N 27/27

Мітки: рівня, досконалості, озброєння, спосіб, військової, техніки, технічної, оцінювання, зразків, однотипних

Формула / Реферат:

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник технічної досконалості приймають суму рангів технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Шпак Анатолій Петрович, Когут Михайло Тихонович, Григор'єв Данило Олегович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Барабаш Роза Ісаківна, Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, монокристалів, спосіб, досконалості, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів

Завантаження...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Макара Володимир Арсенійович, Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, кристалів, оцінки, структурної, інтегральної, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів

Завантаження...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Новиков Микола Миколайович, Сушко Володимир Георгійович, Ременюк Петро Іванович, Теселько Петро Олексійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, структурної, кристалів, спосіб, оцінки, інтегральної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Лень Євген Георгійович, Владімірова Тетяна Петрівна, Оліховський Степан Йосипович, Шпак Анатолій Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Решетник Олег Васильович, Остафійчук Богдан Костянтинович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20, G01N 23/00

Мітки: структурної, контролю, досконалості, монокристалів, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Оліховський Степан Йосифович, Осиновський Максим Євгенович, Низкова Ганна Іванівна, Бідник Дмитро Ілліч, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Гуреєв Микола Анатолійович, Кисловський Євген Миколайович, Поленур Олександр Вольфович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Остапчук Анатолій Іванович, Молодкін Вадим Борисович, Литвинов Юрій Михайлович, Ковальчук Михайло Валентинович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кшевецький Станіслав Антонович, Кривицький Владислав Петрович, Гуреєв Анатолій Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, визначення, структурної, розсіюючих, динамічної, спосіб, монокристалів

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Спосіб експресного контролю структурної досконалості монокристалів, що динамічно розсіюють

Завантаження...

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Кривицький Владислав Петрович, Оліховський Степан Йосипович, Когут Михайло Тихонович, Гаврилова Олена Миколаївна, Лось Андрій Вікторович, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: експресного, структурної, контролю, спосіб, досконалості, монокристалів, розсіюють, динамічної

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Оліховський Степан Йосипович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Когут Михайло Тихонович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Немошкаленко Володимир Володимирович, Грищенко Тарас Аркадійович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, спосіб, монокристалів, досконалості, контролю

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Спосіб контролю структурної досконалості динамічно розсіюючий монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 3699

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Сторижко Володимир Юхимович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Когут Михайло Тихонович, Оліховський Степан Йосипович, Низкова Ганна Іванівна, Ковальчук Михайло Валентинович, Гурєєв Микола Анатолійович, Литвинов Юрій Михайлович, Осиновський Максим Євгенович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Полінур Олександр Вольфович, Кривицький Владислав Петрович, Курбаков Олександр Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, спосіб, контролю, динамічної, монокристалів, досконалості, розсіюючий

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, за­ключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического погло­щения на определенной системе плоскостей, изме­ряют интегральные интенсивности JRH (l)...