Патенти з міткою «досконалості»

Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості

Завантаження...

Номер патенту: 106662

Опубліковано: 10.05.2016

Автори: Єщенко Іван Олексійович, Зарицький Олександр Федорович, Самусенко Олег Васильович, Мисливий Валентин Михайлович, Кравченко Ілля Іванович, Карчинський Віктор Олександрович

МПК: A63B 21/06, A63B 21/00, A63B 17/04 ...

Мітки: вправ, фізичної, етапі, виконання, реабілітації, комплекс, снарядів, досконалості, спортивних

Формула / Реферат:

1. Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ з на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості, до складу якого входять шведська стінка з рядом щаблів та турніком зверху, який відрізняється тим, що нахильна полиця виконана з шарніром усередині, з механізмом фіксації для забезпечення тих чи інших вправ, а дві пари вух знизу забезпечують те чи інше поздовжнє положення лавки.2. Комплекс за п. 1, який відрізняється тим, що...

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 88195

Опубліковано: 11.03.2014

Автори: Калінін Олександр Марковійович, Будяну Раду Георгійович, Грабчак Володимир Іванович, Костюк Володимир Володимирович, Русіло Петро Олександрович, Варванець Юрій Вікторович

МПК: G01N 27/27

Мітки: техніки, зразків, спосіб, рівня, військової, однотипних, оцінювання, досконалості, озброєння, технічної

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму добутків балів технічних і тактико-технічних характеристик, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, на коефіцієнт вагомості технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок

Завантаження...

Номер патенту: 83392

Опубліковано: 10.09.2013

Автори: Хорошайло Юрій Євгенійович, Світличний Віталій Анатольевич

МПК: G01N 27/90

Мітки: тонких, неферомагнітних, досконалості, спосіб, вихрострумовий, структури, резонансний, контролю, плівок

Формула / Реферат:

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок, що включає збудження в об'єкті контролю вихрових струмів змінним електромагнітним полем, зразок тонких неферомагнітних плівок розміщують у високочастотне поле між плоскими котушками вихрострумового перетворювача (ВСП) екранного типу, який відрізняється тим, що для виявлення неоднорідності структури додатково зразок тонких неферомагнітних плівок...

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 72694

Опубліковано: 27.08.2012

Автори: Калінін Олександр Марковійович, Варванець Юрій Вікторович, Чорний Микола Васильович, Русіло Петро Олександрович, Купріненко Олександр Миколайович

МПК: G01N 27/27

Мітки: техніки, озброєння, рівня, зразків, технічної, досконалості, однотипних, удосконалення, вибору, напрямків, військової, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки, який полягає у порівнянні технічних і тактико-технічних характеристик (показників), який відрізняється тим, що напрям удосконалення вибирають на підставі порівняння показників рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки за профілем технічної досконалості (пелюстковою діаграмою).

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 72693

Опубліковано: 27.08.2012

Автор: Русіло Петро Олександрович

МПК: G01N 27/27

Мітки: рівня, техніки, озброєння, оцінювання, однотипних, технічної, спосіб, досконалості, зразків, військової

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначені комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму балів, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 70090

Опубліковано: 25.05.2012

Автори: Венгер Євген Федорович, Лабузов Олександр Євгенійович, Качур Наталія Володимирівна, Христосенко Роман Володимирович, Маслов Володимир Петрович, Ліптуга Анатолій Іванович

МПК: G01N 21/39

Мітки: структурної, контролю, лазерного, спосіб, матеріалів, ступеня, кристалічних, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів, в якому зразок опромінюють лазерним випромінюванням, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості кристала, який відрізняється тим, що між зразком та джерелом випромінювання розміщують діафрагму зі щілиною або отвором, розмір якого дорівнює довжині хвилі випромінювання, за зразком встановлюють прилад, що приймає випромінювання, що пройшло через...

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 65254

Опубліковано: 25.11.2011

Автори: Чорний Микола Васильович, Калінін Олександр Марковійович, Русіло Петро Олександрович, Варванець Юрій Вікторович

МПК: G01N 27/27

Мітки: техніки, оцінювання, спосіб, військової, рівня, зразків, однотипних, досконалості, технічної, озброєння

Формула / Реферат:

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник технічної досконалості приймають суму рангів технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович, Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, монокристалів, спосіб, структурної, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів

Завантаження...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Макара Володимир Арсенійович, Новиков Микола Миколайович, Теселько Петро Олексійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оцінки, спосіб, структурної, кристалів, інтегральної, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів

Завантаження...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович, Сушко Володимир Георгійович, Ременюк Петро Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оцінки, досконалості, спосіб, кристалів, структурної, інтегральної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Лень Євген Георгійович, Остафійчук Богдан Костянтинович, Шпак Анатолій Петрович, Владімірова Тетяна Петрівна, Немошкаленко Володимир Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Решетник Олег Васильович, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20, G01N 23/00

Мітки: монокристалів, спосіб, досконалості, структурної, контролю

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович, Гуреєв Микола Анатолійович, Бідник Дмитро Ілліч, Оліховський Степан Йосифович, Кривицький Владислав Петрович, Остапчук Анатолій Іванович, Поленур Олександр Вольфович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Кшевецький Станіслав Антонович, Осиновський Максим Євгенович, Ковальчук Михайло Валентинович, Литвинов Юрій Михайлович, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: динамічної, структурної, монокристалів, розсіюючих, досконалості, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Спосіб експресного контролю структурної досконалості монокристалів, що динамічно розсіюють

Завантаження...

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Гаврилова Олена Миколаївна, Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Кривицький Владислав Петрович, Кисловський Євген Миколайович, Лось Андрій Вікторович, Когут Михайло Тихонович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Немошкаленко Володимир Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, досконалості, спосіб, розсіюють, монокристалів, динамічної, експресного, контролю

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Когут Михайло Тихонович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Немошкаленко Володимир Володимирович, Гинько Ігор Володимирович, Грищенко Тарас Аркадійович, Кисловський Євген Миколайович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, структурної, досконалості, спосіб, контролю

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Спосіб контролю структурної досконалості динамічно розсіюючий монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 3699

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Кривицький Владислав Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Оліховський Степан Йосипович, Осиновський Максим Євгенович, Молодкін Вадим Борисович, Полінур Олександр Вольфович, Ковальчук Михайло Валентинович, Литвинов Юрій Михайлович, Гурєєв Микола Анатолійович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Сторижко Володимир Юхимович, Когут Михайло Тихонович, Кисловський Євген Миколайович, Курбаков Олександр Іванович, Немошкаленко Володимир Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, контролю, динамічної, спосіб, розсіюючий, досконалості, монокристалів

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, за­ключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического погло­щения на определенной системе плоскостей, изме­ряют интегральные интенсивности JRH (l)...