Патенти з міткою «досконалості»

Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості

Завантаження...

Номер патенту: 106662

Опубліковано: 10.05.2016

Автори: Зарицький Олександр Федорович, Карчинський Віктор Олександрович, Єщенко Іван Олексійович, Мисливий Валентин Михайлович, Самусенко Олег Васильович, Кравченко Ілля Іванович

МПК: A63B 17/04, A63B 21/06, A63B 21/00 ...

Мітки: снарядів, комплекс, етапі, вправ, фізичної, реабілітації, спортивних, досконалості, виконання

Формула / Реферат:

1. Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ з на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості, до складу якого входять шведська стінка з рядом щаблів та турніком зверху, який відрізняється тим, що нахильна полиця виконана з шарніром усередині, з механізмом фіксації для забезпечення тих чи інших вправ, а дві пари вух знизу забезпечують те чи інше поздовжнє положення лавки.2. Комплекс за п. 1, який відрізняється тим, що...

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 88195

Опубліковано: 11.03.2014

Автори: Грабчак Володимир Іванович, Русіло Петро Олександрович, Калінін Олександр Марковійович, Будяну Раду Георгійович, Костюк Володимир Володимирович, Варванець Юрій Вікторович

МПК: G01N 27/27

Мітки: однотипних, досконалості, зразків, техніки, військової, оцінювання, рівня, технічної, озброєння, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму добутків балів технічних і тактико-технічних характеристик, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, на коефіцієнт вагомості технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок

Завантаження...

Номер патенту: 83392

Опубліковано: 10.09.2013

Автори: Хорошайло Юрій Євгенійович, Світличний Віталій Анатольевич

МПК: G01N 27/90

Мітки: резонансний, спосіб, вихрострумовий, контролю, неферомагнітних, структури, досконалості, плівок, тонких

Формула / Реферат:

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок, що включає збудження в об'єкті контролю вихрових струмів змінним електромагнітним полем, зразок тонких неферомагнітних плівок розміщують у високочастотне поле між плоскими котушками вихрострумового перетворювача (ВСП) екранного типу, який відрізняється тим, що для виявлення неоднорідності структури додатково зразок тонких неферомагнітних плівок...

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 72694

Опубліковано: 27.08.2012

Автори: Варванець Юрій Вікторович, Чорний Микола Васильович, Купріненко Олександр Миколайович, Калінін Олександр Марковійович, Русіло Петро Олександрович

МПК: G01N 27/27

Мітки: однотипних, техніки, удосконалення, озброєння, напрямків, вибору, спосіб, зразків, військової, технічної, досконалості, рівня

Формула / Реферат:

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки, який полягає у порівнянні технічних і тактико-технічних характеристик (показників), який відрізняється тим, що напрям удосконалення вибирають на підставі порівняння показників рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки за профілем технічної досконалості (пелюстковою діаграмою).

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 72693

Опубліковано: 27.08.2012

Автор: Русіло Петро Олександрович

МПК: G01N 27/27

Мітки: спосіб, однотипних, рівня, озброєння, оцінювання, військової, досконалості, зразків, техніки, технічної

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначені комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму балів, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 70090

Опубліковано: 25.05.2012

Автори: Качур Наталія Володимирівна, Ліптуга Анатолій Іванович, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович, Христосенко Роман Володимирович, Лабузов Олександр Євгенійович

МПК: G01N 21/39

Мітки: контролю, структурної, лазерного, матеріалів, кристалічних, ступеня, спосіб, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів, в якому зразок опромінюють лазерним випромінюванням, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості кристала, який відрізняється тим, що між зразком та джерелом випромінювання розміщують діафрагму зі щілиною або отвором, розмір якого дорівнює довжині хвилі випромінювання, за зразком встановлюють прилад, що приймає випромінювання, що пройшло через...

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 65254

Опубліковано: 25.11.2011

Автори: Калінін Олександр Марковійович, Русіло Петро Олександрович, Варванець Юрій Вікторович, Чорний Микола Васильович

МПК: G01N 27/27

Мітки: спосіб, оцінювання, військової, техніки, технічної, рівня, досконалості, озброєння, зразків, однотипних

Формула / Реферат:

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник технічної досконалості приймають суму рангів технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович, Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Когут Михайло Тихонович, Григор'єв Данило Олегович, Низкова Ганна Іванівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, спосіб, монокристалів, структурної, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів

Завантаження...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Теселько Петро Олексійович, Макара Володимир Арсенійович, Новиков Микола Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, інтегральної, оцінки, спосіб, кристалів, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів

Завантаження...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Ременюк Петро Іванович, Новиков Микола Миколайович, Теселько Петро Олексійович, Сушко Володимир Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оцінки, структурної, спосіб, кристалів, досконалості, інтегральної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Владімірова Тетяна Петрівна, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Лень Євген Георгійович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Решетник Олег Васильович, Остафійчук Богдан Костянтинович, Кисловський Євген Миколайович, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/00, G01N 23/20

Мітки: структурної, досконалості, монокристалів, спосіб, контролю

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Литвинов Юрій Михайлович, Ковальчук Михайло Валентинович, Остапчук Анатолій Іванович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Кривицький Владислав Петрович, Бідник Дмитро Ілліч, Поленур Олександр Вольфович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосифович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Кшевецький Станіслав Антонович, Гуреєв Микола Анатолійович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Осиновський Максим Євгенович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, спосіб, динамічної, досконалості, монокристалів, визначення, розсіюючих

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Спосіб експресного контролю структурної досконалості монокристалів, що динамічно розсіюють

Завантаження...

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Немошкаленко Володимир Володимирович, Лось Андрій Вікторович, Когут Михайло Тихонович, Оліховський Степан Йосипович, Кривицький Владислав Петрович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Гаврилова Олена Миколаївна, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, динамічної, досконалості, контролю, розсіюють, спосіб, монокристалів, експресного

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Грищенко Тарас Аркадійович, Гинько Ігор Володимирович, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Когут Михайло Тихонович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, досконалості, спосіб, контролю, структурної

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Спосіб контролю структурної досконалості динамічно розсіюючий монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 3699

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Ковальчук Михайло Валентинович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Когут Михайло Тихонович, Литвинов Юрій Михайлович, Полінур Олександр Вольфович, Сторижко Володимир Юхимович, Оліховський Степан Йосипович, Осиновський Максим Євгенович, Гурєєв Микола Анатолійович, Кисловський Євген Миколайович, Низкова Ганна Іванівна, Курбаков Олександр Іванович, Кривицький Владислав Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, спосіб, розсіюючий, монокристалів, динамічної, контролю, досконалості

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, за­ключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического погло­щения на определенной системе плоскостей, изме­ряют интегральные интенсивности JRH (l)...