Патенти з міткою «досконалості»

Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості

Завантаження...

Номер патенту: 106662

Опубліковано: 10.05.2016

Автори: Карчинський Віктор Олександрович, Кравченко Ілля Іванович, Зарицький Олександр Федорович, Самусенко Олег Васильович, Єщенко Іван Олексійович, Мисливий Валентин Михайлович

МПК: A63B 21/06, A63B 21/00, A63B 17/04 ...

Мітки: фізичної, виконання, комплекс, спортивних, етапі, реабілітації, вправ, досконалості, снарядів

Формула / Реферат:

1. Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ з на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості, до складу якого входять шведська стінка з рядом щаблів та турніком зверху, який відрізняється тим, що нахильна полиця виконана з шарніром усередині, з механізмом фіксації для забезпечення тих чи інших вправ, а дві пари вух знизу забезпечують те чи інше поздовжнє положення лавки.2. Комплекс за п. 1, який відрізняється тим, що...

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 88195

Опубліковано: 11.03.2014

Автори: Костюк Володимир Володимирович, Варванець Юрій Вікторович, Грабчак Володимир Іванович, Русіло Петро Олександрович, Будяну Раду Георгійович, Калінін Олександр Марковійович

МПК: G01N 27/27

Мітки: військової, зразків, технічної, спосіб, однотипних, озброєння, техніки, досконалості, оцінювання, рівня

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму добутків балів технічних і тактико-технічних характеристик, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, на коефіцієнт вагомості технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок

Завантаження...

Номер патенту: 83392

Опубліковано: 10.09.2013

Автори: Світличний Віталій Анатольевич, Хорошайло Юрій Євгенійович

МПК: G01N 27/90

Мітки: структури, резонансний, досконалості, спосіб, тонких, контролю, вихрострумовий, неферомагнітних, плівок

Формула / Реферат:

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок, що включає збудження в об'єкті контролю вихрових струмів змінним електромагнітним полем, зразок тонких неферомагнітних плівок розміщують у високочастотне поле між плоскими котушками вихрострумового перетворювача (ВСП) екранного типу, який відрізняється тим, що для виявлення неоднорідності структури додатково зразок тонких неферомагнітних плівок...

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 72694

Опубліковано: 27.08.2012

Автори: Варванець Юрій Вікторович, Калінін Олександр Марковійович, Купріненко Олександр Миколайович, Русіло Петро Олександрович, Чорний Микола Васильович

МПК: G01N 27/27

Мітки: досконалості, техніки, зразків, вибору, удосконалення, напрямків, технічної, військової, спосіб, рівня, однотипних, озброєння

Формула / Реферат:

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки, який полягає у порівнянні технічних і тактико-технічних характеристик (показників), який відрізняється тим, що напрям удосконалення вибирають на підставі порівняння показників рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки за профілем технічної досконалості (пелюстковою діаграмою).

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 72693

Опубліковано: 27.08.2012

Автор: Русіло Петро Олександрович

МПК: G01N 27/27

Мітки: спосіб, військової, рівня, технічної, озброєння, однотипних, досконалості, техніки, зразків, оцінювання

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначені комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму балів, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 70090

Опубліковано: 25.05.2012

Автори: Венгер Євген Федорович, Христосенко Роман Володимирович, Качур Наталія Володимирівна, Маслов Володимир Петрович, Лабузов Олександр Євгенійович, Ліптуга Анатолій Іванович

МПК: G01N 21/39

Мітки: структурної, матеріалів, кристалічних, ступеня, контролю, спосіб, досконалості, лазерного

Формула / Реферат:

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів, в якому зразок опромінюють лазерним випромінюванням, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості кристала, який відрізняється тим, що між зразком та джерелом випромінювання розміщують діафрагму зі щілиною або отвором, розмір якого дорівнює довжині хвилі випромінювання, за зразком встановлюють прилад, що приймає випромінювання, що пройшло через...

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки

Завантаження...

Номер патенту: 65254

Опубліковано: 25.11.2011

Автори: Варванець Юрій Вікторович, Чорний Микола Васильович, Калінін Олександр Марковійович, Русіло Петро Олександрович

МПК: G01N 27/27

Мітки: досконалості, рівня, спосіб, техніки, військової, озброєння, зразків, технічної, однотипних, оцінювання

Формула / Реферат:

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник технічної досконалості приймають суму рангів технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Барабаш Роза Ісаківна, Когут Михайло Тихонович, Шпак Анатолій Петрович, Григор'єв Данило Олегович, Білоцька Алла Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, монокристалів, визначення, досконалості, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів

Завантаження...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Новиков Микола Миколайович, Теселько Петро Олексійович, Макара Володимир Арсенійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, кристалів, спосіб, оцінки, інтегральної, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів

Завантаження...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Новиков Микола Миколайович, Ременюк Петро Іванович, Теселько Петро Олексійович, Сушко Володимир Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: кристалів, спосіб, інтегральної, структурної, досконалості, оцінки

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Владімірова Тетяна Петрівна, Решетник Олег Васильович, Кисловський Євген Миколайович, Лень Євген Георгійович, Шпак Анатолій Петрович, Оліховський Степан Йосипович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Остафійчук Богдан Костянтинович

МПК: G01N 23/00, G01N 23/20

Мітки: досконалості, контролю, спосіб, монокристалів, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Спосіб визначення структурної досконалості динамічно розсіюючих монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Гуреєв Микола Анатолійович, Кшевецький Станіслав Антонович, Бідник Дмитро Ілліч, Литвинов Юрій Михайлович, Низкова Ганна Іванівна, Немошкаленко Володимир Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Остапчук Анатолій Іванович, Ковальчук Михайло Валентинович, Оліховський Степан Йосифович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Кривицький Владислав Петрович, Шпак Анатолій Петрович, Кисловський Євген Миколайович, Когут Михайло Тихонович, Поленур Олександр Вольфович, Осиновський Максим Євгенович, Гуреєв Анатолій Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: розсіюючих, динамічної, структурної, монокристалів, визначення, спосіб, досконалості

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Спосіб експресного контролю структурної досконалості монокристалів, що динамічно розсіюють

Завантаження...

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Лось Андрій Вікторович, Кривицький Владислав Петрович, Гаврилова Олена Миколаївна, Кисловський Євген Миколайович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Оліховський Степан Йосипович, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, контролю, експресного, монокристалів, структурної, динамічної, розсіюють, спосіб

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Немошкаленко Володимир Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Оліховський Степан Йосипович, Грищенко Тарас Аркадійович, Кисловський Євген Миколайович, Шпак Анатолій Петрович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Гинько Ігор Володимирович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Когут Михайло Тихонович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, досконалості, спосіб, монокристалів, контролю

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Спосіб контролю структурної досконалості динамічно розсіюючий монокристалів

Завантаження...

Номер патенту: 3699

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Литвинов Юрій Михайлович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Курбаков Олександр Іванович, Гурєєв Микола Анатолійович, Молодкін Вадим Борисович, Полінур Олександр Вольфович, Когут Михайло Тихонович, Оліховський Степан Йосипович, Кривицький Владислав Петрович, Осиновський Максим Євгенович, Сторижко Володимир Юхимович, Ковальчук Михайло Валентинович

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, структурної, спосіб, контролю, монокристалів, розсіюючий, динамічної

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, за­ключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического погло­щения на определенной системе плоскостей, изме­ряют интегральные интенсивности JRH (l)...